Searching - TalTech Research Portal

display

sort

726

book article

Verification of the test qualityMatrosova, Anjela; Bochun, TatianaBEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings1996 / p. 307-310: ill

book article

727

book article

Verification, testing and validation of rule-based expert systemsTepandi, JaakPreprints 11th IFAC World Congress "Automatic Control in the Service of Mankind" : Tallinn, Estonia, USSR, August 13-17, 1990. Vol. 71990 / p. 162-167

book article

728

book article

VHDL based test generation systemJervan, Gert; Markus, Antti; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the 5th Electronic Devices and Systems Conference, Brno, June 11-12, 19981998 / p. 145-148

book article

729

book article

VHDL design debug framework based on zamiaCADTihhomirov, Valentin; Tšepurov, Anton; Saif Abrar, Syed; Jenihhin, Maksim; Raik, JaanDATE 2013 : Design Automation and Test in Europe, March 18-22, 2013, Grenoble, France2013 / [1] p. : ill

book article

730

book article

VILAB test generation tools running under the MOSCITO systemSchneider, Andre; Ivask, Eero; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesVILAB User Forum : Györ, Hungary, 20012001 / [12] p

book article

731

newspaper article

Õpilastele tarnib kiirteste uus firmaHussar, KaroliinaEesti Päevaleht2021 / Lk. 7 https://dea.digar.ee/article/eestipaevaleht/2021/11/24/7.5

newspaper article

732

journal article

Über einige Probleme der Testsatzanalyse für digitale SystemeUbar, Raimund-JohannesWissenschaftliche Zeitschrift1976 / p. 447-449 https://www.ester.ee/record=b1516616*est

journal article

733

journal article

Über einige Probleme der Testsatzanalyse für digitale SystemeUbar, Raimund-JohannesNachrichtentechnik, Elektronik : technisch-wissenschaftlishe Zeitschrift für die gesamte elektronische Nachrichtentechnik1977 / p. 149-150 https://www.ester.ee/record=b1550811*est

journal article

734

book article

Алгоритм оценки качества вероятностного тестирования цифровых схемGrigorjeva, KsenjaМашинное проектирование электронных устройств и систем1989 / с. 97-103

book article

735

journal article

Анализ диагностических тестов для комбинационных цифровых схем методом обратного прослеживания неисправностейUbar, Raimund-JohannesАвтоматика и телемеханика1977 / с. 168-176 https://www.ester.ee/record=b1515055*est

journal article

736

book article

Анализ методов тестирования микропроцессоровToomsalu, ArvoСинтез и диагностика цифровых устройств и систем1982 / с. 53-62 : илл https://www.ester.ee/record=b1328194*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/febd586e-d7fa-4fbd-bf41-40576a75f94b

book article

737

newspaper article

В волости Раэ тестируют беспилотные автобусыStolitsa.ee2023 В волости Раэ тестируют беспилотные автобусы

newspaper article

738

newspaper article

В Ласнамяэ до 29 апреля можно прокатиться на беспилотном автобусе [Online resource]rus.err.ee2022 "В Ласнамяэ до 29 апреля можно прокатиться на беспилотном автобусе"

newspaper article

739

book article

Вероятностное тестирование цифровых схем и альтернативные графыUbar, Raimund-JohannesМашинное проектирование электронных устройств и систем1989 / с. 89-96

book article

740

book article

Генерирование групповых тестов для цифровых схем на модели альтернативных графовKivi, E.; Ubar, Raimund-JohannesТезисы докладов XXXI студенческой научно-технической конференции1980 / с. 52-55 https://www.ester.ee/record=b1319482*est

book article

741

book article

Генерирование реализации шума на ЭВМLumberg, Tõnu; Ots, AvoТезисы докладов XXXI студенческой научно-технической конференции1980 / с. 60 https://www.ester.ee/record=b1319482*est

book article

742

book article

Генерирование тестов для комбинационных схем с кратными неисправностямиUbar, Raimund-JohannesВопросы проектирования и расчета автоматических информационных систем : [Сборник статей]1978 / с. 6-10

book article

743

book article

Генерирование тестов микропроцессорных систем на модели АГUbar, Raimund-JohannesТехническая диагностика : Тезисы докладов III Международного симпозиума ИМЕКО, Москва, окт. 19831983 / с. 100-103

book article

744

book article

Генерирование тестов по функциональной модели микропрограммного автоматаViilup, AguПроектирование и диагностика вычислительных средств1987 / с. 64-75 : илл https://www.ester.ee/record=b1273275*est

book article

745

book article

Генерирование универсальных тестов для дискретных устройств на альтернативных графахUbar, Raimund-JohannesМетоды синтеза и диагностирования цифровых схем1985 / с. 51-60 : ил https://www.ester.ee/record=b1302568*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/e00f2c15-fd8c-48ac-9963-76da1d62d592

book article

746

book article

Дедуктивной анализ тестов в синхронных цифровых схемах без обратных связейViilup, Agu; Kitsnik, Peeter; Ubar, Raimund-JohannesМатериалы конференции "Автоматизация технического проектирования ЦВМ" (май-июнь 1977 г.)1977 / с. 178-181

book article

747

book article

Единый подход к решению задач тестового диагностирования дискретных системUbar, Raimund-Johannes; Lohuaru, Tõnu; Evartson, TeetIX симпозиум по проблеме избыточности в информационных системах, 3-8 июня 1986 г. : тезисы докладов1986 / с. 32-35

book article

748

book article

Единый подход к решению задач тестового диагностирования дискретных системUbar, Raimund-Johannes; Lohuaru, Tõnu; Evartson, TeetIX симпозиум по проблеме избыточности в информационных системах, 3 июня - 8 июня 1986 года : Тезисы докладов1986 / с. 32-35

book article

749

book article

Измерение параметров аналоговых микросборок применением компенсационного методаLaansoo, Ants; Männama, Vello; Pikkov, OttoМашинное проектирование электронных устройств и систем1988 / с. 105-112

book article

750

journal article

Использование тепловизионного контроля при испытаниях железа статоров генераторовDorovatovski, Nikolai; Rozov, G.Электрические станции2003 / 11, с. 44-46 : ил

journal article

testimine (subject term)

types of item

subject term 1

keyword 1