IJTAG-compatible symptom-based SEU monitors for FPGA DNN accelerators
vastutusandmed
Natalia Cherezova, Maksim Jenihhin, Artur Jutman
allikas
2024 IEEE International Conference on Design, Test and Technology of Integrated Systems (DTTIS)
ilmumiskoht
Piscataway, New Jersey
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
6 p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
IEEE 2nd International Conference on Design, Test and Technology of Integrated Systems (DTTIS), 14-16 Oct. 2024
konverentsi toimumispaik
Aix-En-Provence, France
ISBN
979-8-3503-6312-8
märkused
Bibliogr.: 28 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
märksõna
võtmesõna
Cherezova, N., Jenihhin, M., Jutman, A. IJTAG-compatible symptom-based SEU monitors for FPGA DNN accelerators // 2024 IEEE International Conference on Design, Test and Technology of Integrated Systems (DTTIS). Piscataway, New Jersey : IEEE, 2024. 6 p. : ill.