Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
fault tolerance (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
22
Vaata veel..
(1/97)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(22)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Active redundancy in fault tolerance : A modular switch level solution with synchronous switching
Shirodkar, Aditya
;
Banavath, Satish Naik
;
Chub, Andrii
;
Mandrioli, Riccardo
;
Ricco, Mattia
2025 IEEE Seventh International Conference on DC Microgrids (ICDCM)
2025
/
6 p
https://doi.org/10.1109/ICDCM63994.2025.11144667
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Active redundancy in isolated DC-DC converters: A modular solution for fault tolerance
Shirodkar, Aditya
;
Banavath, Satish Naik
;
Yadav, Neelesh
;
Chub, Andrii
;
Mandrioli, Riccardo
2025 IEEE 19th International Conference on Compatibility, Power Electronics and Power Engineering (CPE-POWERENG)
2025
/
5 p
https://doi.org/10.1109/CPE-POWERENG63314.2025.11027280
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
3
artikkel kogumikus
Analysis and improvement of resilience for long short-term memory neural networks
Ahmadilivani, Mohammad Hasan
;
Raik, Jaan
;
Daneshtalab, Masoud
;
Kuusik, Alar
2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
2023
/
4 p
https://doi.org/10.1109/DFT59622.2023.10313559
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Assessment and Enhancement of Hardware Reliability for Deep Neural Networks = Riistvara töökindluse hindamine ja täiustamine süvanärvivõrkude jaoks
4
artikkel kogumikus
AWAIT : an ultra-lightweight soft-error mitigation mechanism for network-on-chip links
Janson, Karl
;
Pihlak, Rene
;
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Niazmand, Behrad
;
Jervan, Gert
;
Raik, Jaan
2018 13th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), Lille, France, July 9th-11th, 2018
2018
/
p. 1-6 : ill
https://doi.org/10.1109/ReCoSoC.2018.8449374
artikkel kogumikus
5
artikkel kogumikus
Challenges of reliability assessment and enhancement in autonomous systems
Jenihhin, Maksim
;
Sonza Reorda, Matteo
;
Balakrishnan, Aneesh
;
Alexandrescu, Dan
2019 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2019)
2019
/
6 p
https://doi.org/10.1109/DFT.2019.8875379
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks
6
artikkel kogumikus
Cost-effective fault tolerance for CNNs using parameter vulnerability based hardening and pruning
Ahmadilivani, Mohammad Hasan
;
Mousavi, Seyedhamidreza
;
Raik, Jaan
;
Daneshtalab, Masoud
;
Jenihhin, Maksim
2024 IEEE 30th International Symposium on On-line Testing and Robust System Design (IOLTS) : IOLTS 2024 : July 03rd-05th 2024, Rennes, Brittany, France
2024
/
7 p
https://doi.org/10.1109/IOLTS60994.2024.10616072
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Assessment and Enhancement of Hardware Reliability for Deep Neural Networks = Riistvara töökindluse hindamine ja täiustamine süvanärvivõrkude jaoks
7
artikkel kogumikus
Effect of PM parameters variability on the operation quantities of a wind generator
Kallaste, Ants
;
Belahcen, Anouar
;
Vaimann, Toomas
2015 IEEE Workshop on Electrical Machines Design, Control and Diagnosis (WEMDCD) : proceedings : Castello del Valentino, Torino, Italy, 26-27 March, 2015
2015
/
p. 242-247 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/WEMDCD.2015.7194536
artikkel kogumikus
8
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Event-based control for differentially flat systems: application to autonomous underwater vehicle
Kaldmäe, Arvo
;
Kotta, Ülle
;
Meurer, Christian
;
Simha, Ashutosh
IFAC-PapersOnLine
2019
/
p. 180-185
https://doi.org/10.1016/j.ifacol.2019.11.775
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
9
artikkel ajakirjas
Fault tolerance in integration interfaces of business software
Lemmik, Rivo
;
Karjust, Kristo
;
Otto, Tauno
International Journal Of Scientific Knowledge (Computing and Information Technology) IJSK
2014
/
p. 35-43 : ill
artikkel ajakirjas
10
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
FESDA : fog-enabled secure data aggregation in smart grid IoT network
Saleem, Ahsan
;
Khan, Abid
;
Malik, Saif Ur Rehman
;
Pervaiz, Haris
;
Malik, Hassan
;
Alam, Masoom
;
Jindal, Anish
IEEE Internet of Things Journal
2020
/
p. 6132-6142
https://doi.org/10.1109/JIOT.2019.2957314
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
11
artikkel kogumikus
Handling of SETs on NoC links by exploitation of inherent redundancy in circular input buffers [Online resource]
Janson, Karl
;
Pihlak, Rene
;
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Niazmand, Behrad
;
Jervan, Gert
;
Raik, Jaan
BEC 2018 : 2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) : proceedings of the 16th Biennial Baltic Electronics Conference, October 8-10, 2018
2018
/
4 p.: ill
https://doi.org/10.1109/BEC.2018.8600989
artikkel kogumikus
12
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Hybrid DC–DC converters with topology morphing control and post-fault operation capability
Vinnikov, Dmitri
;
Chub, Andrii
;
Korkh, Oleksandr
;
Blinov, Andrei
;
Liivik, Elizaveta
Electrimacs 2019 : Selected Papers, Vol. 1
2020
/
p. 433-445
https://doi.org/10.1007/978-3-030-37161-6_33
Conference proceeding at Scopus
Article at Scopus
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
13
artikkel kogumikus
NOC mapping and scheduling
Nikiforov, Deniss
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu
2013
/
p. 73-78 : ill
artikkel kogumikus
14
artikkel kogumikus
Operation of Single-Chip MOSFET and IGBT Devices after failure due to repetitive avalanche [Electronic resource]
Blinov, Andrei
;
Norrga, Staffan
;
Tibola, Gabriel
EPE'15 ECCE Europe : 8-10 September 2015, Geneva, Switzerland : 17th European Conference on Power Electronics and Applications
2015
/
p. 1-9 : ill. [USB]
http://dx.doi.org/10.1109/EPE.2015.7309190
artikkel kogumikus
15
artikkel kogumikus
RESCUE EDA Toolset for interdependent aspects of reliability, security and quality in nanoelectronic systems design
Gürsoy, Cemil Cem
;
Cardoso Medeiros, Guilherme
;
Chen, Juanho
;
Balakrishnan, Aneesh
;
Lai, Xinhui
;
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
DATE 2019
2019
/
1 p. : ill
https://doi.org/10.5281/zenodo.3362529
https://past.date-conference.com/
artikkel kogumikus
16
artikkel kogumikus
RESCUE: interdependent challenges of reliability, security and quality in nanoelectronic systems
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) : proceedings
2020
/
art. 19690741 , 6 p
https://doi.org/10.23919/DATE48585.2020.9116558
artikkel kogumikus
17
artikkel ajakirjas
Self-healing photovoltaic microconverter with zero redundancy and accurate low-cost fault detection
Bakeer, Abualkasim Ahmed Ali
;
Chub, Andrii
;
Vinnikov, Dmitri
IEEE transactions on industrial electronics
2024
/
p. 646-656
https://doi.org/10.1109/TIE.2023.3250836
artikkel ajakirjas
Seotud publikatsioonid
1
Fault-tolerant galvanically isolated DC‑DC converters with zero redundancy = Null-liiasusega veatolerantsed galvaanilise isolatsiooniga alalispingemuundurid
18
artikkel kogumikus
Short-circuit fault detection and remedial in full-bridge rectifier of series resonant DC-DC converter based on inductor voltage signature
Bakeer, Abualkasim Ahmed Ali
;
Chub, Andrii
;
Vinnikov, Dmitri
2020 IEEE 61st International Scientific Conference on Power and Electrical Engineering of Riga Technical University (RTUCON), Riga, Latvia, Nov. 5-7, 2020 : conference proceedings
2020
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/RTUCON51174.2020.9316482
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Fault-tolerant galvanically isolated DC‑DC converters with zero redundancy = Null-liiasusega veatolerantsed galvaanilise isolatsiooniga alalispingemuundurid
19
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Systematic review of fault tolerant techniques in underwater sensor networks
Vihman, Lauri
;
Kruusmaa, Maarja
;
Raik, Jaan
Sensors
2021
/
art. 3264
https://doi.org/10.3390/s21093264
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Seotud publikatsioonid
1
Data-driven fault-resilient cross-layer sensor network architecture = Andmepõhine tõrkekindel kihtideülene sensorvõrgu arhitektuur
20
artikkel kogumikus
Zero-memory-overhead clipping-based fault tolerance for LSTM deep neural networks
Parchekani, Bahram
;
Nazari, Samira
;
Ahmadilivani, Mohammad Hasan
;
Azarpeyvand, Ali
;
Raik, Jaan
;
Ghasempouri, Tara
;
Daneshtalab, Masoud
37th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerancein VLSI and Nanotechnology Systems, Harwell, Oxfordshire, Didcot, UK, October 8th - 10th, 2024
2024
/
4 p. : ill
https://doi.org/10.1109/DFT63277.2024.10753533
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Assessment and Enhancement of Hardware Reliability for Deep Neural Networks = Riistvara töökindluse hindamine ja täiustamine süvanärvivõrkude jaoks
21
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Topology-morphing photovoltaic microconverter with wide MPPT voltage window and post-fault operation capability
Vinnikov, Dmitri
;
Chub, Andrii
;
Zinchenko, Denys
;
Sidorov, Vadim
IEEE Access
2020
/
art. 9171332, p. 153941-153955 : ill
https://doi.org/10.1109/ACCESS.2020.3017805
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
22
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Toward software-defined networking-based IoT frameworks : a systematic literature review, taxonomy, open challenges and prospects
Siddiqui, Shahbaz
;
Hameed, Sufian
;
Shah, Syed Attique
;
Aneiba, Adel
;
Draheim, Dirk
;
Dustdar, Schahram
IEEE Access
2022
/
p. 70850-70901
https://doi.org/10.1109/ACCESS.2022.3188311
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 22, kuvan
1 - 22
võtmesõna
97
1.
cross-layer fault tolerance
2.
fault tolerance
3.
fault-tolerance
4.
sensor tolerance
5.
thermal tolerance
6.
tolerance
7.
tolerance analysis
8.
tourism tolerance
9.
asynchronous fault detection
10.
automatic fault diagnosis
11.
bearing fault diagnosis
12.
bi-directional fault monitoring devices
13.
conditional fault collapsing
14.
control fault models
15.
critical path fault tracing
16.
cross-layered fault management
17.
extended fault class
18.
fault currents
19.
fault analysis
20.
fault analysis model
21.
fault classification
22.
fault classification
23.
fault collapsing
24.
fault compensation
25.
fault coverage
26.
fault current and voltage measurements
27.
Fault current limite
28.
fault current limiter
29.
fault detection
30.
fault detection and diagnoses
31.
fault detection and diagnosis
32.
fault diagnosis
33.
fault diagnostic
34.
fault diagnostic resolution
35.
fault diagnostics
36.
fault dignosis
37.
fault effects
38.
fault emulation
39.
fault equivalence and dominance
40.
fault handling
41.
fault handling strategy
42.
fault indicator
43.
fault injection
44.
Fault Injection Simulation
45.
fault Interruption
46.
fault localization
47.
fault location
48.
fault management
49.
fault masking
50.
fault modeling
51.
fault models
52.
fault monitoring
53.
fault prediction
54.
fault protection
55.
fault redundancy
56.
fault resilience
57.
fault ride through
58.
Fault ride through enhancement
59.
fault signal
60.
fault simulastion
61.
fault simulation
62.
fault simulation with critical path tracing
63.
fault tolerant
64.
fault tolerant control
65.
fault tolerant operation
66.
fault tolerant router design
67.
fault tolerant systems
68.
fault tree analysis
69.
fault-injection attack
70.
fault-plane solution
71.
fault-resilience
72.
fault-resistant
73.
fault-ride-through (FRT)
74.
fault-tolerant
75.
Fault-tolerant (FT) converters
76.
fault-tolerant control
77.
fault-tolerant converter
78.
functional fault model
79.
high-level control fault model
80.
high-level fault coverage
81.
high-level fault model
82.
high-level fault simulation
83.
high-level functional fault model
84.
Katun fault
85.
low-level fault redundancy
86.
no fault found
87.
No-Fault-Found
88.
open circuit fault
89.
Parallel Fault Simulation with Critical Path Backtracing
90.
parallel fault-simulation
91.
short circuit fault
92.
spectrum-based fault localization
93.
stacking fault
94.
stuck-at fault model
95.
test generation and fault diagnosis
96.
transient fault mitigation
97.
transmission lines fault
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT