Ubar, R.-J., Raik, J., Nõmmeots, T. - TalTech teadusportaal

täiskirje prindi

Testability guided hierarchical test generation with decision diagrams

autor

Ubar, Raimund-Johannes

Raik, Jaan

Nõmmeots, Tanel

vastutusandmed

R.Ubar, J.Raik, T.Nõmmeots

allikas

20th IEEE NORCHIP Conference : Copenhagen, Denmark, November 11-12, 2002

ilmumiskoht

Copenhagen

kirjastus/väljaandja

TechnoData

ilmumisaasta

2002

leheküljed

p. 265-271

leitav

https://www.semanticscholar.org/paper/Testability-Guided-Hierarchical-Test-Generation-Ubar-Raik/c6301ac35d003c92f3867f26e2e75b87e1ad9b47

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

digitaalintegraallülitused

testimine

kvaliteeditestid

otsustusteooria

otsustusdiagrammid

Ubar, R.-J., Raik, J., Nõmmeots, T. Testability guided hierarchical test generation with decision diagrams // 20th IEEE NORCHIP Conference : Copenhagen, Denmark, November 11-12, 2002. Copenhagen : TechnoData, 2002. p. 265-271. https://www.semanticscholar.org/paper/Testability-Guided-Hierarchical-Test-Generation-Ubar-Raik/c6301ac35d003c92f3867f26e2e75b87e1ad9b47