Exploration of Activation Fault Reliability in Quantized Systolic Array-Based DNN Accelerators
autor
vastutusandmed
Mahdi Taheri, Natalia Cherezova, Mohammad Saeed Ansari, Maksim Jenihhin, Ali Mahani, Masoud Daneshtalab, Jaan Raik
allikas
25th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
8 p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
25th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 3 April 2024 – 5 April 2024
konverentsi toimumispaik
San Francisco, California, United States
märkused
Bibliogr.: 29 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
klassifikaator
Taheri, M., Cherezova, N., Ansari, M.S., Jenihhin, M., Mahani, A., Daneshtalab, M., Raik, J. Exploration of Activation Fault Reliability in Quantized Systolic Array-Based DNN Accelerators // 25th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED). : IEEE, 2025. 8 p. : ill.