Understanding multidimensional verification : where functional meets non-functional
autor
vastutusandmed
Xinhui Lai, Aneesh Balakrishnan, Thomas Lange, Maksim Jenihhin, Tara Ghasempouri, Jaan Raik, Dan Alexandrescu
allikas
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 71
ilmumisaasta
leheküljed
art. 102867, 13 p. : ill
ISSN
0141-9331
märkused
Bibliogr.: 86 ref
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
keel
inglise
klassifikaator
kvartiil
kategooria (üld)
TTÜ struktuuriüksus
- A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks
- Approaches to extra-functional verification of security and reliability aspects in hardware designs = Riistvaraprojektide turva- ja töökindlusaspektide ekstrafunktsionaalse verifitseerimise lähenemisviisid
Lai, X., Balakrishnan, A., Lange, T., Jenihhin, M., Ghasempouri, T., Raik, J., Alexandrescu, D. Understanding multidimensional verification : where functional meets non-functional // Microprocessors and microsystems (2019) vol. 71, art. 102867, 13 p. : ill. https://doi.org/10.1016/j.micpro.2019.102867