Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
stuck-at-faults (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(1/33)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Combinational fault simulation in sequential circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kõusaar, Jaak
;
Gorev, Maksim
;
Devadze, Sergei
2015 IEEE International Symposium on Circuits and Systems : 24-27 May 2015, Lisboa, Portugal : [proceedings]
2015
/
p. 2876-2879 : ill
https://doi.org/10.1109/ISCAS.2015.7169287
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
2
artikkel ajakirjas
Exact parallel critical path fault tracing to speed-up fault simulation in sequential circuits
Kõusaar, Jaak
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
International journal of microelectronics and computer science
2018
/
p. 9−18
https://ijmcs.dmcs.pl/web/guest/vol.-9-no.-1
https://ijmcs.dmcs.pl/documents/10630/345460/IJMCS_1_2018_2.pdf
artikkel ajakirjas
3
artikkel kogumikus
Parallel critical path tracing fault simulation in sequential circuits
Kõusaar, Jaak
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
Proceedings of 25th International Conference MIXED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS : MIXDES 2018 : Gdynia, Poland, June 21–23, 2018
2018
/
p. 305-310 : ill
https://doi.org/10.23919/MIXDES.2018.8436880
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
võtmesõna
33
1.
stuck-at-faults
2.
Single Stuck-at Faults
3.
stuck-at fault model
4.
arc faults
5.
Avoiding Mutual Masking of Multiple Faults
6.
broken rotor bar faults
7.
circuit faults
8.
classification of faults
9.
control faults
10.
Cross-level Modeling of Faults in Digital Systems
11.
faults
12.
faults classification
13.
faults in power system
14.
hard-to-detect faults
15.
high impedance faults
16.
high-level control faults
17.
indefinite faults
18.
inter-disk and inter-turn faults
19.
localization of faults
20.
motor faults
21.
multiple faults
22.
non-robust and functional sensitization of delay faults
23.
power distribution faults
24.
power system faults
25.
rotor faults
26.
Safe Faults
27.
tectonic faults
28.
terms-transient faults
29.
Test Group Generation for Detecting Multiple Faults
30.
transient faults
31.
transition delay faults
32.
unknown faults
33.
untestable faults
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT