Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
pattern Generation (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/108)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Post-silicon validation of IEEE 1687 reconfigurable scan networks
Damljanovic, Aleksa
;
Jutman, Artur
;
Squillero, Giovanni
;
Tšertov, Anton
2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : proceedings
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791546
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Simulation-based equivalence checking between IEEE 1687 ICL and RTL
Damljanovic, Aleksa
;
Jutman, Artur
;
Portolan, Michele
;
Tšertov, Anton
2019 IEEE International Test Conference (ITC)
2019
/
paper. 7.3, 8 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ITC44170.2019.9000181
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
108
1.
automated test pattern generation
2.
automatic test pattern generation
3.
pattern Generation
4.
architecture pattern
5.
circulation pattern
6.
demand time pattern
7.
FP Growth (Frequent-Pattern Growth) algorithm
8.
Image Processing and Pattern Recognition
9.
interaction design pattern
10.
load pattern
11.
pattern
12.
pattern classification
13.
pattern enumeration
14.
pattern formation
15.
pattern language
16.
pattern matching
17.
pattern mining for event logs
18.
pattern mining from event logs
19.
pattern mining from log files
20.
pattern recognition
21.
pattern search
22.
radio frequency pattern matching
23.
ripple pattern formation
24.
Single far-field pattern
25.
test-pattern
26.
Activity-based demand generation
27.
adaptive test strategy generation
28.
automatic code generation
29.
Automatic generation control
30.
automatic GUI model generation
31.
automatic test case generation
32.
automatic test program generation
33.
behaviour level test generation
34.
building and urban form generation
35.
business model generation
36.
code generation
37.
disaster alert generation
38.
distributed electricity generation
39.
distributed generation
40.
Distributed Generation (DG)
41.
distributed generation systems
42.
distributed power generation
43.
distrubuted power generation
44.
droplet generation
45.
droplet generation rate control
46.
electric power generation
47.
electricity generation
48.
energy generation
49.
extreme penetration level of non synchronous generation
50.
feasible path generation
51.
fifth generation computer
52.
fourth generation district heating
53.
frequent item generation
54.
functional test generation
55.
generation
56.
generation and transmission expansion planning
57.
Generation Costs
58.
generation of electric energy
59.
generation succession
60.
heat generation
61.
high-level test data generation
62.
highlevel test generation
63.
hydroelectric power generation
64.
hydrogen generation
65.
I–III generation
66.
implementation-independent test generation
67.
job generation
68.
multisine generation
69.
next generation 4D printing
70.
next generation sequencing
71.
Next-generation probiotics
72.
next-generation sequencing
73.
offline test generation
74.
oil-shale power generation
75.
photovoltaic (PV) generation
76.
photovoltaic generation dispatch
77.
power generation
78.
power generation dispatch
79.
power generation economics
80.
power generation planning
81.
provably correct test generation
82.
PV generation
83.
PV power generation
84.
Renewable energy generation
85.
renewable generation
86.
residual generation
87.
Second generation bioethanol
88.
second generation of tribology models
89.
second generation sequencing
90.
signal generation
91.
silver generation
92.
solar power generation
93.
space generation advisory council
94.
template based sql generation
95.
test generation
96.
test generation and fault diagnosis
97.
test program generation
98.
trajectory generation
99.
waste generation
100.
wave generation
101.
white light generation
102.
wind energy generation
103.
wind generation
104.
wind power generation
105.
16S rRNA gene amplicon next-generation sequencing
106.
4GDH (4th generation district heating)
107.
4th generation district heating
108.
5th generation district heating
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT