Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
pattern Generation (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/110)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Post-silicon validation of IEEE 1687 reconfigurable scan networks
Damljanovic, Aleksa
;
Jutman, Artur
;
Squillero, Giovanni
;
Tšertov, Anton
2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : proceedings
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791546
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Simulation-based equivalence checking between IEEE 1687 ICL and RTL
Damljanovic, Aleksa
;
Jutman, Artur
;
Portolan, Michele
;
Tšertov, Anton
2019 IEEE International Test Conference (ITC)
2019
/
paper. 7.3, 8 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ITC44170.2019.9000181
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
110
1.
automated test pattern generation
2.
automatic test pattern generation
3.
pattern Generation
4.
architecture pattern
5.
circulation pattern
6.
demand time pattern
7.
FP Growth (Frequent-Pattern Growth) algorithm
8.
Image Processing and Pattern Recognition
9.
interaction design pattern
10.
load pattern
11.
pattern
12.
pattern classification
13.
pattern enumeration
14.
pattern formation
15.
pattern language
16.
pattern matching
17.
pattern mining for event logs
18.
pattern mining from event logs
19.
pattern mining from log files
20.
pattern recognition
21.
pattern search
22.
radio frequency pattern matching
23.
ripple pattern formation
24.
Single far-field pattern
25.
test-pattern
26.
Activity-based demand generation
27.
adaptive test strategy generation
28.
automatic code generation
29.
Automatic generation control
30.
automatic GUI model generation
31.
automatic test case generation
32.
automatic test program generation
33.
behaviour level test generation
34.
building and urban form generation
35.
business model generation
36.
code generation
37.
data set generation
38.
decentralized key generation
39.
disaster alert generation
40.
distributed electricity generation
41.
distributed generation
42.
Distributed Generation (DG)
43.
distributed generation systems
44.
distributed power generation
45.
distrubuted power generation
46.
droplet generation
47.
droplet generation rate control
48.
electric power generation
49.
electricity generation
50.
energy generation
51.
extreme penetration level of non synchronous generation
52.
feasible path generation
53.
fifth generation computer
54.
fourth generation district heating
55.
frequent item generation
56.
functional test generation
57.
generation
58.
generation and transmission expansion planning
59.
Generation Costs
60.
generation of electric energy
61.
generation succession
62.
heat generation
63.
high-level test data generation
64.
highlevel test generation
65.
hydroelectric power generation
66.
hydrogen generation
67.
I–III generation
68.
implementation-independent test generation
69.
job generation
70.
multisine generation
71.
next generation 4D printing
72.
next generation sequencing
73.
Next-generation probiotics
74.
next-generation sequencing
75.
offline test generation
76.
oil-shale power generation
77.
photovoltaic (PV) generation
78.
photovoltaic generation dispatch
79.
power generation
80.
power generation dispatch
81.
power generation economics
82.
power generation planning
83.
provably correct test generation
84.
PV generation
85.
PV power generation
86.
Renewable energy generation
87.
renewable generation
88.
residual generation
89.
Second generation bioethanol
90.
second generation of tribology models
91.
second generation sequencing
92.
signal generation
93.
silver generation
94.
solar power generation
95.
space generation advisory council
96.
template based sql generation
97.
test generation
98.
test generation and fault diagnosis
99.
test program generation
100.
trajectory generation
101.
waste generation
102.
wave generation
103.
white light generation
104.
wind energy generation
105.
wind generation
106.
wind power generation
107.
16S rRNA gene amplicon next-generation sequencing
108.
4GDH (4th generation district heating)
109.
4th generation district heating
110.
5th generation district heating
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT