Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
cross-layer reliability (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(2/144)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
A survey on UAV computing platforms : a hardware reliability perspective
Ahmed, Foisal
;
Jenihhin, Maksim
Sensors
2022
/
art. 6286
https://doi.org/10.3390/s22166286
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Understanding fault-tolerance vulnerabilities in advanced SoC FPGAs for critical applications
Cherezova, Natalia
;
Shibin, Konstantin
;
Jenihhin, Maksim
;
Jutman, Artur
Microelectronics reliability
2023
/
art. 115010, 10 p. : ill
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.115010
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
143
1.
cross-layer reliability
2.
cross-layer
3.
cross-layer fault tolerance
4.
engineering reliability operational probabilities
5.
framework of reliability estimation
6.
hardware reliability
7.
high reliability
8.
high reliability leadership
9.
high reliability management
10.
high reliability organizations
11.
materials reliability
12.
Network reliability
13.
power system reliability
14.
process reliability
15.
reliability
16.
reliability analysis
17.
reliability assessment
18.
Reliability engineering
19.
reliability evaluation
20.
reliability optimization
21.
reliability prediction
22.
reliability verification
23.
reliability-performance trade-off
24.
semiconductor device reliability
25.
soft-error reliability
26.
substation reliability
27.
system reliability
28.
absorber layer
29.
abstraction layer
30.
additive layer manufacturing
31.
atomic layer deposition
32.
atomic layer deposition (ALD)
33.
bottom boundary layer
34.
boundary layer
35.
buffer layer
36.
Cd-free buffer layer
37.
composite layer
38.
deep layer
39.
double-layer capacitance
40.
Ekman layer
41.
electric double-layer
42.
electron transport layer
43.
Equivalent single layer
44.
glaze layer
45.
interface layer
46.
layer growing curvature method
47.
layer removing
48.
layer-wise displacement theory
49.
MAC layer
50.
maximal two-layer exchange
51.
mechanically mixed layer (MML)
52.
monograin layer solar cell
53.
monograin layer solar cells
54.
network layer
55.
oxide layer
56.
physical layer
57.
seed layer
58.
selenium capping layer
59.
SiO2 interface layer
60.
sub-maximal two-layer exchange
61.
zero-strenght-layer
62.
zero‐strength layer
63.
zero-strength layer
64.
zero‐strength layer
65.
ZnS buffer layer
66.
thin layer chromatography
67.
Thin layer chromatography (TLC)
68.
thin-layer chromatography
69.
thin-layer rendering
70.
thin-layer rendering system
71.
thin-layer rendering systems
72.
tribo-layer
73.
upper mixed layer
74.
bay of parabolic cross-section
75.
bay with a parabolic cross-section
76.
bays of parabolic cross-section
77.
channels of variable cross-section
78.
cross border
79.
cross correlation
80.
cross laminated timber
81.
cross mediation
82.
cross subsidisation
83.
cross validation
84.
cross-border
85.
cross-border communication networks
86.
cross-border data exchange
87.
cross-border e-government
88.
cross-border e-services
89.
cross-border integration
90.
cross-border merger
91.
cross-border mergers
92.
cross-Border Mergers Directive
93.
cross-border mobilit
94.
cross-border public services
95.
cross-border services
96.
cross-border spillovers
97.
cross-checking
98.
cross-correlation
99.
cross-country
100.
cross-country comparison
101.
cross-coupling reactions
102.
cross-cultural communication
103.
cross-cultural competences
104.
cross-cultural differences
105.
cross-cultural management
106.
cross-cultural study
107.
crossdependencies
108.
cross-disciplinary
109.
cross-enterprise
110.
Cross-Entropy method
111.
cross-governmental cooperation
112.
Cross-Impact Matrix Multiplication Applied Classification (MICMAC)
113.
cross-innovation
114.
Cross-kingdom RNAi
115.
cross-lagged analysis
116.
cross-laminated timber
117.
cross‐laminated timber
118.
cross-language analysis
119.
cross-layered fault management
120.
cross-linguality
121.
cross-linking
122.
cross-linking polymerscross-linking polymers
123.
cross-order harmonic coupling
124.
cross-organizational
125.
cross-section
126.
cross-sectional studies
127.
cross-sectional study
128.
cross-sectoral collaboration
129.
cross-sectoral innovation
130.
cross-sectorial innovation
131.
cross-shore jets
132.
cross-shore profile
133.
effective cross section method
134.
effective cross-section method
135.
electronic cross-communication
136.
intrastate and cross-border social movements
137.
metallographic cross section
138.
protein cross-linking
139.
reduced cross-section method
140.
sonogashira cross-coupling
141.
Suzuki cross-coupling
142.
Trans-European cross-border corridors
143.
two-photon cross section
autor
1
1.
Cross, Sam
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT