Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
cross-layer reliability (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(2/153)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
A survey on UAV computing platforms : a hardware reliability perspective
Ahmed, Foisal
;
Jenihhin, Maksim
Sensors
2022
/
art. 6286
https://doi.org/10.3390/s22166286
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Understanding fault-tolerance vulnerabilities in advanced SoC FPGAs for critical applications
Cherezova, Natalia
;
Shibin, Konstantin
;
Jenihhin, Maksim
;
Jutman, Artur
Microelectronics reliability
2023
/
art. 115010, 10 p. : ill
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.115010
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
152
1.
cross-layer reliability
2.
cross-layer
3.
cross-layer fault tolerance
4.
engineering reliability operational probabilities
5.
framework of reliability estimation
6.
hardware reliability
7.
high reliability
8.
high reliability leadership
9.
high reliability management
10.
high reliability organizations
11.
materials reliability
12.
Network reliability
13.
power system reliability
14.
process reliability
15.
reliability
16.
reliability analysis
17.
reliability assessment
18.
reliability assessment and enhancement
19.
Reliability engineering
20.
reliability evaluation
21.
reliability optimization
22.
reliability prediction
23.
reliability verification
24.
reliability-performance trade-off
25.
semiconductor device reliability
26.
soft-error reliability
27.
substation reliability
28.
system reliability
29.
absorber layer
30.
abstraction layer
31.
additive layer manufacturing
32.
atomic layer deposition
33.
atomic layer deposition (ALD)
34.
bay of parabolic cross-section
35.
bay with a parabolic cross-section
36.
bays of different cross sections
37.
bays of parabolic cross-section
38.
bottom boundary layer
39.
boundary layer
40.
buffer layer
41.
Cd-free buffer layer
42.
channels of variable cross-section
43.
composite layer
44.
cross border
45.
cross correlation
46.
cross laminated timber
47.
cross mediation
48.
cross subsidisation
49.
cross validation
50.
cross-border
51.
cross-border communication networks
52.
cross-border data exchange
53.
cross-border digital public services
54.
cross-border e-government
55.
cross-border e-services
56.
cross-border integration
57.
cross-border merger
58.
cross-border mergers
59.
cross-Border Mergers Directive
60.
cross-border mobilit
61.
cross-border public services
62.
cross-border services
63.
cross-border spillovers
64.
cross-checking
65.
cross-correlation
66.
cross-country
67.
cross-country comparison
68.
cross-coupling reactions
69.
cross-cultural communication
70.
cross-cultural competences
71.
cross-cultural differences
72.
cross-cultural management
73.
cross-cultural study
74.
crossdependencies
75.
cross-disciplinary
76.
cross-enterprise
77.
Cross-Entropy method
78.
cross-functional teams
79.
cross-governmental cooperation
80.
Cross-Impact Matrix Multiplication Applied Classification (MICMAC)
81.
cross-innovation
82.
Cross-kingdom RNAi
83.
cross-lagged analysis
84.
cross-laminated timber
85.
cross‐laminated timber
86.
cross-language analysis
87.
cross-layered fault management
88.
Cross-level Modeling of Faults in Digital Systems
89.
cross-linguality
90.
cross-linking
91.
cross-linking polymerscross-linking polymers
92.
cross-national case studies
93.
cross-order harmonic coupling
94.
cross-organizational
95.
cross-section
96.
cross-sectional studies
97.
cross-sectional study
98.
cross-sectoral collaboration
99.
cross-sectoral innovation
100.
cross-sectorial innovation
101.
cross-shore jets
102.
cross-shore profile
103.
deep layer
104.
double-layer capacitance
105.
effective cross section method
106.
effective cross-section method
107.
Ekman layer
108.
electric double-layer
109.
electron transport layer
110.
electronic cross-communication
111.
Equivalent single layer
112.
glaze layer
113.
hole transport layer
114.
interface layer
115.
intrastate and cross-border social movements
116.
layer growing curvature method
117.
layer removing
118.
layer-wise displacement theory
119.
MAC layer
120.
maximal two-layer exchange
121.
mechanically mixed layer (MML)
122.
metallographic cross section
123.
mixed layer drifter
124.
monograin layer solar cell
125.
monograin layer solar cells
126.
network layer
127.
oxide layer
128.
physical layer
129.
protein cross-linking
130.
reduced cross-section method
131.
seed layer
132.
selenium capping layer
133.
SiO2 interface layer
134.
sonogashira cross-coupling
135.
sub-maximal two-layer exchange
136.
Suzuki cross-coupling
137.
zero-strenght-layer
138.
zero‐strength layer
139.
zero-strength layer
140.
zero‐strength layer
141.
ZnS buffer layer
142.
thin layer chromatography
143.
Thin layer chromatography (TLC)
144.
thin-layer chromatography
145.
thin-layer rendering
146.
thin-layer rendering system
147.
thin-layer rendering systems
148.
TiO2 electron transport layer
149.
Trans-European cross-border corridors
150.
tribo-layer
151.
two-photon cross section
152.
upper mixed layer
autor
1
1.
Cross, Sam
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT