Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
cross-layer reliability (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(2/161)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
A survey on UAV computing platforms : a hardware reliability perspective
Ahmed, Foisal
;
Jenihhin, Maksim
Sensors
2022
/
art. 6286
https://doi.org/10.3390/s22166286
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Understanding fault-tolerance vulnerabilities in advanced SoC FPGAs for critical applications
Cherezova, Natalia
;
Shibin, Konstantin
;
Jenihhin, Maksim
;
Jutman, Artur
Microelectronics reliability
2023
/
art. 115010, 10 p. : ill
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.115010
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
159
1.
cross-layer reliability
2.
cross-layer
3.
cross-layer fault tolerance
4.
engineering reliability operational probabilities
5.
framework of reliability estimation
6.
hardware reliability
7.
high reliability
8.
high reliability leadership
9.
high reliability management
10.
high reliability organizations
11.
materials reliability
12.
Network reliability
13.
power reliability
14.
power system reliability
15.
process reliability
16.
reliability
17.
reliability analysis
18.
reliability assessment
19.
reliability assessment and enhancement
20.
Reliability engineering
21.
reliability evaluation
22.
reliability optimization
23.
reliability prediction
24.
reliability verification
25.
reliability-performance trade-off
26.
semiconductor device reliability
27.
soft-error reliability
28.
substation reliability
29.
system reliability
30.
absorber layer
31.
abstraction layer
32.
additive layer manufacturing
33.
atomic layer deposition
34.
atomic layer deposition (ALD)
35.
bay of parabolic cross-section
36.
bay with a parabolic cross-section
37.
bays of different cross sections
38.
bays of parabolic cross-section
39.
bottom boundary layer
40.
boundary layer
41.
buffer layer
42.
Cd-free buffer layer
43.
channels of variable cross-section
44.
composite layer
45.
cross border
46.
cross correlation
47.
cross laminated timber
48.
cross mediation
49.
cross subsidisation
50.
cross validation
51.
cross-border
52.
cross-border communication networks
53.
cross-border cooperation
54.
cross-border data exchange
55.
cross-border digital public services
56.
cross-border e-government
57.
cross-border e-services
58.
cross-border integration
59.
cross-border merger
60.
cross-border mergers
61.
cross-Border Mergers Directive
62.
cross-border mobilit
63.
cross-border public services
64.
cross-border services
65.
cross-border spillovers
66.
cross-checking
67.
cross-city model transfer
68.
cross-correlation
69.
cross-country
70.
cross-country comparison
71.
cross-coupling reactions
72.
cross-cultural communication
73.
cross-cultural competences
74.
cross-cultural differences
75.
cross-cultural management
76.
cross-cultural study
77.
crossdependencies
78.
cross-disciplinary
79.
cross-enterprise
80.
Cross-Entropy method
81.
cross-functional teams
82.
cross-governmental cooperation
83.
Cross-Impact Matrix Multiplication Applied Classification (MICMAC)
84.
cross-innovation
85.
Cross-kingdom RNAi
86.
cross-lagged analysis
87.
cross-laminated timber
88.
cross‐laminated timber
89.
cross-language analysis
90.
cross-layered fault management
91.
Cross-level Modeling of Faults in Digital Systems
92.
cross-linguality
93.
cross-linking
94.
cross-linking polymerscross-linking polymers
95.
cross-national
96.
cross-national case studies
97.
cross-national comparison
98.
cross-order harmonic coupling
99.
cross-organizational
100.
cross-section
101.
cross-sectional studies
102.
cross-sectional study
103.
cross-sector partnerships
104.
cross-sectoral collaboration
105.
cross-sectoral innovation
106.
cross-sectorial innovation
107.
cross-shore jets
108.
cross-shore profile
109.
deep layer
110.
double-layer capacitance
111.
effective cross section method
112.
effective cross-section method
113.
Ekman layer
114.
electric double-layer
115.
electron transport layer
116.
electronic cross-communication
117.
Equivalent single layer
118.
glaze layer
119.
hole transport layer
120.
interface layer
121.
intrastate and cross-border social movements
122.
layer fusion
123.
layer growing curvature method
124.
layer removing
125.
layer-wise displacement theory
126.
MAC layer
127.
maximal two-layer exchange
128.
mechanically mixed layer (MML)
129.
metallographic cross section
130.
mixed layer drifter
131.
monograin layer solar cell
132.
monograin layer solar cells
133.
network layer
134.
oxide layer
135.
physical layer
136.
protein cross-linking
137.
reduced cross-section method
138.
seed layer
139.
selenium capping layer
140.
SiO2 interface layer
141.
sonogashira cross-coupling
142.
sub-maximal two-layer exchange
143.
Suzuki cross-coupling
144.
zero-strenght-layer
145.
zero‐strength layer
146.
zero-strength layer
147.
zero‐strength layer
148.
ZnS buffer layer
149.
thin layer chromatography
150.
Thin layer chromatography (TLC)
151.
thin-layer chromatography
152.
thin-layer rendering
153.
thin-layer rendering system
154.
thin-layer rendering systems
155.
TiO2 electron transport layer
156.
Trans-European cross-border corridors
157.
tribo-layer
158.
two-photon cross section
159.
upper mixed layer
autor
2
1.
Cross, Andy
2.
Cross, Sam
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT