Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
cross-layer reliability (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(2/156)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
A survey on UAV computing platforms : a hardware reliability perspective
Ahmed, Foisal
;
Jenihhin, Maksim
Sensors
2022
/
art. 6286
https://doi.org/10.3390/s22166286
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Understanding fault-tolerance vulnerabilities in advanced SoC FPGAs for critical applications
Cherezova, Natalia
;
Shibin, Konstantin
;
Jenihhin, Maksim
;
Jutman, Artur
Microelectronics reliability
2023
/
art. 115010, 10 p. : ill
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.115010
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
155
1.
cross-layer reliability
2.
cross-layer
3.
cross-layer fault tolerance
4.
engineering reliability operational probabilities
5.
framework of reliability estimation
6.
hardware reliability
7.
high reliability
8.
high reliability leadership
9.
high reliability management
10.
high reliability organizations
11.
materials reliability
12.
Network reliability
13.
power reliability
14.
power system reliability
15.
process reliability
16.
reliability
17.
reliability analysis
18.
reliability assessment
19.
reliability assessment and enhancement
20.
Reliability engineering
21.
reliability evaluation
22.
reliability optimization
23.
reliability prediction
24.
reliability verification
25.
reliability-performance trade-off
26.
semiconductor device reliability
27.
soft-error reliability
28.
substation reliability
29.
system reliability
30.
absorber layer
31.
abstraction layer
32.
additive layer manufacturing
33.
atomic layer deposition
34.
atomic layer deposition (ALD)
35.
bay of parabolic cross-section
36.
bay with a parabolic cross-section
37.
bays of different cross sections
38.
bays of parabolic cross-section
39.
bottom boundary layer
40.
boundary layer
41.
buffer layer
42.
Cd-free buffer layer
43.
channels of variable cross-section
44.
composite layer
45.
cross border
46.
cross correlation
47.
cross laminated timber
48.
cross mediation
49.
cross subsidisation
50.
cross validation
51.
cross-border
52.
cross-border communication networks
53.
cross-border cooperation
54.
cross-border data exchange
55.
cross-border digital public services
56.
cross-border e-government
57.
cross-border e-services
58.
cross-border integration
59.
cross-border merger
60.
cross-border mergers
61.
cross-Border Mergers Directive
62.
cross-border mobilit
63.
cross-border public services
64.
cross-border services
65.
cross-border spillovers
66.
cross-checking
67.
cross-correlation
68.
cross-country
69.
cross-country comparison
70.
cross-coupling reactions
71.
cross-cultural communication
72.
cross-cultural competences
73.
cross-cultural differences
74.
cross-cultural management
75.
cross-cultural study
76.
crossdependencies
77.
cross-disciplinary
78.
cross-enterprise
79.
Cross-Entropy method
80.
cross-functional teams
81.
cross-governmental cooperation
82.
Cross-Impact Matrix Multiplication Applied Classification (MICMAC)
83.
cross-innovation
84.
Cross-kingdom RNAi
85.
cross-lagged analysis
86.
cross-laminated timber
87.
cross‐laminated timber
88.
cross-language analysis
89.
cross-layered fault management
90.
Cross-level Modeling of Faults in Digital Systems
91.
cross-linguality
92.
cross-linking
93.
cross-linking polymerscross-linking polymers
94.
cross-national case studies
95.
cross-order harmonic coupling
96.
cross-organizational
97.
cross-section
98.
cross-sectional studies
99.
cross-sectional study
100.
cross-sectoral collaboration
101.
cross-sectoral innovation
102.
cross-sectorial innovation
103.
cross-shore jets
104.
cross-shore profile
105.
deep layer
106.
double-layer capacitance
107.
effective cross section method
108.
effective cross-section method
109.
Ekman layer
110.
electric double-layer
111.
electron transport layer
112.
electronic cross-communication
113.
Equivalent single layer
114.
glaze layer
115.
hole transport layer
116.
interface layer
117.
intrastate and cross-border social movements
118.
layer fusion
119.
layer growing curvature method
120.
layer removing
121.
layer-wise displacement theory
122.
MAC layer
123.
maximal two-layer exchange
124.
mechanically mixed layer (MML)
125.
metallographic cross section
126.
mixed layer drifter
127.
monograin layer solar cell
128.
monograin layer solar cells
129.
network layer
130.
oxide layer
131.
physical layer
132.
protein cross-linking
133.
reduced cross-section method
134.
seed layer
135.
selenium capping layer
136.
SiO2 interface layer
137.
sonogashira cross-coupling
138.
sub-maximal two-layer exchange
139.
Suzuki cross-coupling
140.
zero-strenght-layer
141.
zero‐strength layer
142.
zero-strength layer
143.
zero‐strength layer
144.
ZnS buffer layer
145.
thin layer chromatography
146.
Thin layer chromatography (TLC)
147.
thin-layer chromatography
148.
thin-layer rendering
149.
thin-layer rendering system
150.
thin-layer rendering systems
151.
TiO2 electron transport layer
152.
Trans-European cross-border corridors
153.
tribo-layer
154.
two-photon cross section
155.
upper mixed layer
autor
1
1.
Cross, Sam
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT