Analysis and improvement of resilience for long short-term memory neural networks
vastutusandmed
Mohammad Hasan Ahmadilivani, Jaan Raik, Masoud Daneshtalab, Alar Kuusik
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
4 p
konverentsi nimetus, aeg
36th IEEE InternationalSymposium on Defect andFault Tolerancein VLSIandNanotechnology Systems (DFT), 3-5 October 2023
konverentsi toimumispaik
Juan-les-Pins, France
ISSN
2765-933X
ISBN
979-8-3503-1500-4
märkused
Bibliogr.: 12 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
märksõna
võtmesõna
fault tolerant systems
discrete Fourier transforms
long short term memory
klassifikaator
Ahmadilivani, M. H., Raik, J., Daneshtalab, M., Kuusik, A. Analysis and improvement of resilience for long short-term memory neural networks // 2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT). : IEEE, 2023. 4 p.