Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

551

raamat

Proceedings of the 2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 18-20, 2012 Tallinn, Estonia2012 http://www.ester.ee/record=b2777270*est

raamat

552

artikkel kogumikus

Professor Raimund Ubari ettekanne [audoktorite promotsioonil TTÜ Nõukogu pidulikul istungil 1. sept. 1993]Ubar, Raimund-Johannes75 aastat Tallinna Tehnikaülikooli1994 / lk. 106-109 https://www.ester.ee/record=b1066846*est

artikkel kogumikus

553

artikkel ajakirjas

PSL assertion checking using temporally extended high-level decision diagramsJenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Tšepurov, Anton; Ubar, Raimund-JohannesJournal of electronic testing : theory and applications2009 / 6, p. 289-300 : ill https://pld.ttu.ee/home/maksim/phd_papers/%5B11%5D%20latw%2708.pdf

artikkel ajakirjas

554

artikkel kogumikus

PSL assertion checking with temporally extended high-level decision diagramsJenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Tšepurov, Anton; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the 9th IEEE Latin-American Test Workshop : LATW2008 : February 17-20, 2008, Puebla, Mexico2008 / p. 49-54 : ill https://pld.ttu.ee/~maksim/phd_papers/%5B11%5D%20latw%2708.pdf

artikkel kogumikus

555

artikkel ajalehes

Pöidlasuurune hiiglaneUbar, Raimund-JohannesSõnumileht1998 / 1. märts, lk. 8: ill https://artiklid.elnet.ee/record=b1761233*est

artikkel ajalehes

556

artikkel ajalehes

Pöördumine Haridus- ja Teadusministri ning Riigikogu kultuurikomisjoni esimehe poole : [doktorikoolide probleemist]Arro, Ilmar; Kaljurand, Mihkel; Kallavus, Urve; Kübarsepp, Jakob; Lille, Ülo; Lopp, Margus; Mellikov, Enn; Min, Mart; Rang, Toomas; Rüstern, Ennu; Taklaja, Andres; Tamm, Toomas; Tammet, Tanel; Tepandi, Jaak; Ubar, Raimund-Johannes; Öpik, AndresMente et Manu2005 / 18. mai. lk. 1 https://www.ester.ee/record=b1242496*est

artikkel ajalehes

557

artikkel kogumikus

Pöördumine Haridus- ja Teadusministri ning Riigikogu kultuurikomisjoni esimehe poole : [doktorikoolide probleemist]Arro, Ilmar; Kaljurand, Mihkel; Kallavus, Urve; Kübarsepp, Jakob; Lille, Ülo; Lopp, Margus; Mellikov, Enn; Min, Mart; Rang, Toomas; Rüstern, Ennu; Taklaja, Andres; Tamm, Toomas; Tammet, Tanel; Tepandi, Jaak; Ubar, Raimund-Johannes; Öpik, AndresTallinna Tehnikaülikooli aastaraamat 20052006 / lk. 430-431

artikkel kogumikus

558

artikkel kogumikus

Quo vadis, tehnikakõrgharidus? : [kõne inseneride päeva tähistamisel Eesti Inseneride Liidus 9. detsembril 2011 Eesti Teaduste Akadeemia saalis Toompeal]Ubar, Raimund-JohannesTallinna Tehnikaülikooli aastaraamat 20112012 / lk. 296-307

artikkel kogumikus

559

artikkel ajalehes

Rahvusvaheline konverents ja magistrikraadidUbar, Raimund-JohannesTehnikaülikool1997 / 1. dets., lk. 3: ill https://www.ester.ee/record=b5309277*est

artikkel ajalehes

560

artikkel kogumikus

Raimund Ubari lühisõnavõtt : riigi teadus-, kultuuri- ja spordipreemiate ning F.J.Wiedemanni keeleauhinna kätteandmisel 24. veebruaril 2016. aastalUbar, Raimund-JohannesRaimund-Johannes Ubar. Bibliograafia2016 / lk. 45-46

artikkel kogumikus

561

artikkel kogumikus

Register-transfer level deductive fault simulation using decision diagramsReinsalu, Uljana; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesBEC 2010 : 2010 12th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 12th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 4-6, 2010, Tallinn, Estonia2010 / p. 193-196 : ill

artikkel kogumikus

562

artikkel ajakirjas

Reisikirjad võõrsiltUbar, Raimund-JohannesHorisont1995 / 1, lk. 54-58; 2, lk. 35-39; 3, lk. 59-62; 4, lk. 51-54; 5, lk. 51-54; 6, lk. 51-55: ill https://artiklid.elnet.ee/record=b2029755*est

artikkel ajakirjas

563

artikkel kogumikus EST / artikkel kogumikus ENG

Rejuvenation of NBTI-impacted processors using evolutionary generation of assembler programsPellerey, Francesco; Jenihhin, Maksim; Squillero, Giovanni; Raik, Jaan; Sonza Reorda, Matteo; Tihhomirov, Valentin; Ubar, Raimund-Johannes2016 IEEE 25th Asian Test Symposium : 21-24 November 2016, Hiroshima, Japan2016 / p. 304-309 : ill https://doi.org/10.1109/ATS.2016.57 Conference Proceedings at Scopus Article at Scopus Article at WOS

artikkel kogumikus EST / artikkel kogumikus ENG

564

artikkel ajalehes

Rektor Andres Keevallik saab 24. veebruaril 70aastaseksHazak, Gabriel; Ubar, Raimund-Johannes; Kattel, RainerMente et Manu2013 / lk. 16 : fot https://www.ester.ee/record=b1242496*est

artikkel ajalehes

565

artikkel kogumikus

Remarks on different decision diagramsStankovic, Radomir S.; Ubar, Raimund-Johannes; Astola, JaakkoProceedings of the Reed-Muller 2011 Workshop : May 25-26, 2011, Tuusula, Finland2011 / p. 99-110 : ill

artikkel kogumikus

566

artikkel kogumikus

Remote and virtual laboratories in problem-based learning scenariosWuttke, Heinz-Dietrich; Ubar, Raimund-Johannes; Henke, Karsten2010 IEEE International Symposium on Multimedia ISM 2010 : 13-15 December 2010, Taichung, Taiwan : proceedings2010 / p. 377-382 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ISM.2010.63

artikkel kogumikus

567

artikkel kogumikus

Removing design errors from digital circuitsUbar, Raimund-JohannesProc. of the 4th International Conference on New Information Technologies. Vol. 12000 / p. 118-125

artikkel kogumikus

568

artikkel kogumikus

Replication-based deterministic testing of 2-dimensional arrays with highly interrelated cellsAzad, Siavoosh Payandeh; Oyeniran, Adeboye Stephen; Ubar, Raimund-Johannes21st IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : DDECS 2018 : Budapest, Hungary 25-27 April, 2018 : proceedings2018 / p. 21-26 : ill https://doi.org/10.1109/DDECS.2018.00011

artikkel kogumikus

569

artikkel kogumikus

Representing gate-level SET faults by multiple SEU faults on RT-levelBagbaba, Ahmet Cagri; Jenihhin, Maksim; Ubar, Raimund-Johannes; Sauer, Christian2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 13-15 July 2020 : proceedings2020 / art. 19889351, 6 p. : ill https://doi.org/10.1109/IOLTS50870.2020.9159715

artikkel kogumikus

Seotud publikatsioonid 1

Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks

570

artikkel kogumikus

Representing transparency conditions in test generation for VLSI by decision diagramsUbar, Raimund-JohannesProceedings of the First Electronic Circuits and Systems Conference : Bratislava, Slovakia, September 4-5, 19971997 / p. 213-216

artikkel kogumikus

571

artikkel kogumikus

Research and training environment for digital design and testUbar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-Dietrich34th ASEE/IEEE Frontiers in Education Conference : October 20-23, 2004, Savannah, GA2004 / p. S3F-18-S3F-23 : ill http://dx.doi.org/10.1109/FIE.2004.1408779

artikkel kogumikus

572

artikkel kogumikus

Research and training environment for digital design and testUbar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-DietrichProceedings of the Eighth IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education : August 29-31, 2005, Oranjestad, Aruba2005 / p. 232-237 : ill https://ieeexplore.ieee.org/document/1408779

artikkel kogumikus

573

artikkel kogumikus

Research and training scenarios for design and test of SOC [Electronic resource]Ubar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-DietrichWCETE 2004 : World Congress on Engineering and Technology Education : Engineering Education in the Changing Society : March 14-17, 2004, Guaruja/Santos, Brazil2004 / p. 320-324 : ill. [CD-ROM]

artikkel kogumikus

574

artikkel kogumikus

Research environment for teaching digital testIvask, Eero; Jutman, Artur; Orasson, Elmet; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-DietrichSynergies between Information and Automation : 49. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, 27.-30.9.2004, Technische Universität Ilmenau, Germany. Volume 22004 / p. 468-473 : ill https://pld.ttu.ee/dildis/publications/IWK'2004_res_inv.pdf

artikkel kogumikus

575

artikkel ajakirjas

Research in digital design and test at Tallinn University of TechnologyUbar, Raimund-Johannes; Jervan, Gert; Jutman, Artur; Raik, Jaan; Ellervee, Peeter; Kruus, MargusRadioelectronics & informatics2008 / p. 4-12 : ill http://www.ewdtest.com/ri/%E2%84%96-1-40-january-march-2008/

artikkel ajakirjas

Ubar, Raimund-Johannes (autor)

teaviku laadid

CV 63

autor 57

tema kohta 28

märksõna 1