Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

51

artikkel kogumikus

Training speaker recognition models with recording-level labelsAlumäe, Tanel2018 IEEE Workshop on Spoken Language Technology : SLT 2018 : Proceedings, December 18–21, 2018, Athens, Greece2018 / p. 1066-1072 http://doi.org/10.1109/SLT.2018.8639601

artikkel kogumikus

52

artikkel ajakirjas

Tööstuslikud meetodid plastijäätmete identifitseerimiseks ja materjalide lahutamiseksKers, Jaan; Aleksandrova, OlgaKeskkonnatehnika2007 / 4, lk. 36-39 : ill https://artiklid.elnet.ee/record=b1020738*est

artikkel ajakirjas

53

artikkel kogumikus

Weakly supervised training of speaker identification modelsKaru, Martin; Alumäe, TanelOdyssey 2018 : The Speaker and Language Recognition Workshop, 26-29 June 2018, Les Sables d'Olonne, France : proceedings2018 / p. 24-30 : ill https://www.isca-speech.org/archive/Odyssey_2018/pdfs/41.pdf

artikkel kogumikus

54

artikkel ajakirjas

artikkel ajakirjas

55

artikkel ajakirjas

Идентификация по равноточным измерениям в точках ЧебышеваPetersen, Ivar-HeldurEesti NSV Teaduste Akadeemia toimetised. Füüsika. Matemaatika = Известия Академии наук Эстонской ССР. Физика. Математика = Proceedings of Academy of Sciences of the Estonian SSR. Physics. Mathematics1969 / с. 410-415 https://www.ester.ee/record=b1264310*est https://www.etera.ee/zoom/18878/view?page=1&p=separate&tool=info

artikkel ajakirjas

56

artikkel kogumikus

Идентификация производящих функций и ее применения при моделировании динамикиAntoi, Kersti; Kukk, VelloЧисленные методы и средства проектирования и испытания элементов РЭА : тезисы докладов. Том II1987 / с. 81-83 https://www.ester.ee/record=b1273989*est

artikkel kogumikus

57

dissertatsioon

dissertatsioon

58

dissertatsioon

dissertatsioon

59

artikkel ajakirjas

A background of bias : subtle changes in lineup backgrounds increase the own race biasHavard, Catriona; Breese, Emily; Thirkettle, Martin; Kask, Kristjan; Leol, Kris-Loreen; Mädamürk, KajaJournal of Police and Criminal Psychology2023 / 12 p https://doi.org/10.1007/s11896-023-09578-2 journal metrics at Scopuses article at Scopuses journal metrics at WOS article at WOS

artikkel ajakirjas