Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
digitaaltehnika (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
207
Vaata veel..
(1/1)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(207)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
101
artikkel ajakirjas
Mixed-level test generator for digital systems
Brik, Marina
;
Jervan, Gert
;
Markus, Antti
;
Paomets, Priidu
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences. Engineering
1997
/
4, p. 271-282 : ill
artikkel ajakirjas
102
dissertatsioon
Model synthesis from VHDL for the functional test generation system
Krupnova, Helena
1993
https://www.ester.ee/record=b2090509*est
dissertatsioon
103
artikkel ajalehes
MS Estonia ferry investigation continues, no additional funds yet allocated [Online resources]
Linnart, Mart
news.err.ee
2022
MS Estonia ferry investigation continues, no additional funds yet allocated
artikkel ajalehes
104
artikkel kogumikus
Multi-level fault simulation of digital systems on decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Ivask, Eero
;
Brik, Marina
The First IEEE International Workshop on Electronic Design, Test and Applications : DELTA 2002, 29-31 January 2002, Christchurch, New Zealand : proceedings
2002
/
p. 86-91 : ill
artikkel kogumikus
105
raamat
Multi-level test generation and fault diagnosis in digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
1992
raamat
106
artikkel kogumikus
Multi-level test generation for digital systems at system, circuit and defect levels
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the 7th International Scientific Conference "Theory and Technique of Information Transmission, Reception and Processing" : Tuapse, October 1-4, 2001
2001
/
p. 286-288
artikkel kogumikus
107
artikkel kogumikus
Multiple fault testing in systems-on-chip with high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Schölzel, Mario
;
Vierhaus, Heinrich Theodor
Proceedings of 2015 10th International Design & Test Symposium (IDT) : Dead Sea, Jordan, 14-16 December 2015
2015
/
p. 66-71 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/IDT.2015.7396738
artikkel kogumikus
108
artikkel kogumikus
Multivalued simulation on AG-model of digital devices
Ubar, Raimund-Johannes
;
Voolaine, Andrus
Proceedings of the 12th Conference on Fault-Tolerant Systems and Diagnostics, Prague, Czechoslovakia, September, 1989
1989
/
p. 101-104
artikkel kogumikus
109
artikkel kogumikus
Mutation analysis for systemC designs at TLM
Guarnieri, Valerio
;
Bombieri, Nicola
;
Pravadelli, Graziano
;
Fummi, Franco
;
Hantson, Hanno
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
12th IEEE Latin American Test Workshop (LATW) : Porto de Galinhas, Brasil, 27-30 March 2011
2011
/
[6] p
https://ieeexplore.ieee.org/document/5985925
artikkel kogumikus
110
dissertatsioon
Mutation-based verification and error correction in high-level designs = Mutatsioonidel põhinev verifitseerimine ja vigade parandamine kõrgtaseme skeemides
Hantson, Hanno
2015
https://www.ester.ee/record=b4518212*est
dissertatsioon
111
artikkel ajalehes
Mõtteid koostöö võimalikkusest Ida-Lääne piiril
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kruus, Margus
Mente et Manu
2003
/
20. okt., lk. 2 : portr
https://artiklid.elnet.ee/record=b1415646*est
artikkel ajalehes
112
artikkel kogumikus
New method of testability calculation to guide RT-level test generation
Raik, Jaan
;
Nõmmeots, Tanel
;
Ubar, Raimund-Johannes
4th IEEE Latin-American Test Workshop : LATW2003 : Natal, Brazil, February 16-19, 2003
2003
/
p. 46-51 : ill
https://link.springer.com/article/10.1007/s10836-005-5288-5
artikkel kogumikus
113
artikkel ajakirjas
Optimization of boundary scan tests using FPGA-based efficient scan architectures
Aleksejev, Igor
;
Devadze, Sergei
;
Jutman, Artur
;
Shibin, Konstantin
Journal of electronic testing : theory and applications (JETTA)
2016
/
p. 245-255 : ill
http://dx.doi.org/10.1007/s10836-016-5588-y
artikkel ajakirjas
114
artikkel kogumikus
Optimization of memory-constrained hybrid BIST for testing core-based systems
Jervan, Gert
;
Kruus, Helena
;
Orasson, Elmet
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the IEEE 2nd International Symposium on Industrial Embedded Systems : SIES'2007 : Lisbon, Portugal, 4-6 July 2007
2007
/
p. 71-77
https://ieeexplore.ieee.org/document/4297319
artikkel kogumikus
115
artikkel kogumikus
Optimization of memory-constrained hybrid BIST for testing core-based systems
Jervan, Gert
;
Kruus, Helena
;
Orasson, Elmet
;
Ubar, Raimund-Johannes
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum
2007
/
lk. 133-136 : ill
artikkel kogumikus
116
artikkel ajakirjas
Overview about low-level and high-level decision diagrams for diagnostic modeling of digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
Facta Universitatis [Niš]. Series electronics and energetics
2011
/
p. 303-324 : ill
http://dx.doi.org/10.2298/FUEE1103303U
artikkel ajakirjas
117
artikkel kogumikus
Overview about low-lewel and high-level decision diagrams for diagnostic modeling of digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the Reed-Muller 2011 Workshop : May 25-26, 2011, Tuusula, Finland
2011
/
p. 1-10 : ill
https://scindeks-clanci.ceon.rs/data/pdf/0353-3670/2011/0353-36701103303U.pdf
artikkel kogumikus
118
artikkel kogumikus
Overview of e-learning environment for web-based study of testing and diagnostics of digital systems
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
Microelectronics education : proceedings of the 5th European Workshop on Microelectronics Education, held in Lausanne, Switzerland, April 15-16, 2004
2004
/
p. 253-258 : ill
https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-1-4020-2651-5_41
artikkel kogumikus
119
artikkel kogumikus
Overview of e-learning environment for web-based study of testing and diagnostics of digital systems
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
5th European Workshop on Microelectronics Education - EWME 2004, Lausanne, 2004
2004
/
p. 173-176
https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-1-4020-2651-5_41
artikkel kogumikus
120
artikkel kogumikus
Parallel fault simulation in digital circuits
Aarna, Margit
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proc. of 42nd International Scientific Conference of Riga Technical University
2001
/
p. 91-94
artikkel kogumikus
121
artikkel ajakirjas
Parallel fault simulation in digital circuits
Aarna, Margit
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Scientific proceedings of Riga Technical University. 7. serija, Telecommunications and electronics
2001
/
p. 91-94 : ill
artikkel ajakirjas
122
artikkel kogumikus
Probabilistic equivalence checking based on high-level decision diagrams
Karputkin, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Tombak, Mati
;
Raik, Jaan
Proceedings of the 2011 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 13-15, 2011, Gottbus, Germany
2011
/
p. 423-428 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/5783130
artikkel kogumikus
123
artikkel kogumikus
PSL assertions based verification with HLDD tools
Jenihhin, Maksim
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum
2007
/
lk. 17-20 : ill
artikkel kogumikus
124
artikkel kogumikus
Register transfer low power design based on controller decomposition
Sudnitsõn, Aleksander
MIEL 2004 : 24th International Conference on Microelectronics : Niš, Serbia and Montenegro, 16-19 May 2004 : proceedings. Volume 2
2004
/
p. 735-738 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/1314937
artikkel kogumikus
125
artikkel kogumikus
Research environment for teaching digital test
Ivask, Eero
;
Jutman, Artur
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
Synergies between Information and Automation : 49. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, 27.-30.9.2004, Technische Universität Ilmenau, Germany. Volume 2
2004
/
p. 468-473 : ill
https://pld.ttu.ee/dildis/publications/IWK'2004_res_inv.pdf
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 207, kuvan
101 - 125
eelmine
1
2
3
4
5
6
7
8
9
järgmine
märksõna
1
1.
digitaaltehnika
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT