Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

101

artikkel kogumikus

Java technology based training system for teaching digital design and testDevadze, Sergei; Jutman, Artur; Sudnitsõn, Aleksander; Ubar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-DietrichBEC 2002 : proceedings of the 8th Biennial Baltic Electronics Conference : October 6-9, 2002, Tallinn, Estonia2002 / p. 283-286 : ill

artikkel kogumikus

102

raamat

Kiiruse mõõtmise mobiilne süsteem : aastal 2009 avaldatud tööde koopiate kogumik. 13Laaneots, Rein2009 https://www.ester.ee/record=b2641827*est

raamat

103

artikkel ajalehes

Kvaliteetsema digiõppe poolePuust, RaidoPostimees2021 / Lk. 14 https://dea.digar.ee/article/postimees/2021/05/13/12.10

artikkel ajalehes

104

raamat

Logic and system design of digital systemsBaranov, Samary; Keevallik, Andres2008 https://www.ester.ee/record=b2358322*est

raamat

105

artikkel ajalehes

Mehaanika ja tööstustehnika instituudis valmivad elumuutvad lahendused [Võrguväljaanne]Alver, Anne-MariEesti Päevaleht2022 / Lk. 10 Mehaanika ja tööstustehnika instituudis valmivad elumuutvad lahendused

artikkel ajalehes

106

dissertatsioon

Methods for improving the accuracy and efficiency of fault simulation in digital systems = Meetodid digitaalsüsteemide rikete simuleerimise täpsuse ja efektiivsuse tõstmiseksKõusaar, Jaak2019 https://digi.lib.ttu.ee/i/?11667

dissertatsioon

107

artikkel ajalehes

Millest tekkisid parvlaeva Estonia augud? Laevaehituse insener : teeme esimesi katsearvutusiRiik, Marvelohtuleht.ee2023 / Lk. 2 Millest tekkisid parvlaeva Estonia augud? Laevaehituse insener: teeme esimesi katsearvutusi

artikkel ajalehes

108

artikkel kogumikus

Mixed-level defect simulation in data-paths of digital systemsUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Ivask, Eero; Brik, Marina23rd International Conference on Microelectronics : MIEL 2002, Niš, Yugoslavia, 12-15 May 2002 : proceedings. Volume 22002 / p. 617-620 : ill https://ieeexplore.ieee.org/document/1003333

artikkel kogumikus

109

artikkel ajakirjas

Mixed-level test generator for digital systemsBrik, Marina; Jervan, Gert; Markus, Antti; Paomets, Priidu; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the Estonian Academy of Sciences. Engineering1997 / 4, p. 271-282 : ill

artikkel ajakirjas

110

dissertatsioon

Model synthesis from VHDL for the functional test generation systemKrupnova, Helena1993 https://www.ester.ee/record=b2090509*est

dissertatsioon

111

artikkel ajalehes

MS Estonia ferry investigation continues, no additional funds yet allocated [Online resources]Linnart, Martnews.err.ee2022 MS Estonia ferry investigation continues, no additional funds yet allocated

artikkel ajalehes

112

artikkel kogumikus

Multi-level fault simulation of digital systems on decision diagramsUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Ivask, Eero; Brik, MarinaThe First IEEE International Workshop on Electronic Design, Test and Applications : DELTA 2002, 29-31 January 2002, Christchurch, New Zealand : proceedings2002 / p. 86-91 : ill

artikkel kogumikus

113

raamat

Multi-level test generation and fault diagnosis in digital systemsUbar, Raimund-Johannes1992

raamat

114

artikkel kogumikus

Multi-level test generation for digital systems at system, circuit and defect levelsUbar, Raimund-JohannesProceedings of the 7th International Scientific Conference "Theory and Technique of Information Transmission, Reception and Processing" : Tuapse, October 1-4, 20012001 / p. 286-288

artikkel kogumikus

115

artikkel kogumikus

Multiple fault testing in systems-on-chip with high-level decision diagramsUbar, Raimund-Johannes; Oyeniran, Adeboye Stephen; Schölzel, Mario; Vierhaus, Heinrich TheodorProceedings of 2015 10th International Design & Test Symposium (IDT) : Dead Sea, Jordan, 14-16 December 20152015 / p. 66-71 : ill http://dx.doi.org/10.1109/IDT.2015.7396738

artikkel kogumikus

116

artikkel kogumikus

Multivalued simulation on AG-model of digital devicesUbar, Raimund-Johannes; Voolaine, AndrusProceedings of the 12th Conference on Fault-Tolerant Systems and Diagnostics, Prague, Czechoslovakia, September, 19891989 / p. 101-104

artikkel kogumikus

117

artikkel kogumikus

Mutation analysis for systemC designs at TLMGuarnieri, Valerio; Bombieri, Nicola; Pravadelli, Graziano; Fummi, Franco; Hantson, Hanno; Raik, Jaan; Jenihhin, Maksim; Ubar, Raimund-Johannes12th IEEE Latin American Test Workshop (LATW) : Porto de Galinhas, Brasil, 27-30 March 20112011 / [6] p https://ieeexplore.ieee.org/document/5985925

artikkel kogumikus

118

dissertatsioon

Mutation-based verification and error correction in high-level designs = Mutatsioonidel põhinev verifitseerimine ja vigade parandamine kõrgtaseme skeemidesHantson, Hanno2015 https://www.ester.ee/record=b4518212*est

dissertatsioon

119

artikkel ajalehes

Mõtteid koostöö võimalikkusest Ida-Lääne piirilUbar, Raimund-Johannes; Kruus, MargusMente et Manu2003 / 20. okt., lk. 2 : portr https://artiklid.elnet.ee/record=b1415646*est

artikkel ajalehes

120

artikkel kogumikus

New method of testability calculation to guide RT-level test generationRaik, Jaan; Nõmmeots, Tanel; Ubar, Raimund-Johannes4th IEEE Latin-American Test Workshop : LATW2003 : Natal, Brazil, February 16-19, 20032003 / p. 46-51 : ill https://link.springer.com/article/10.1007/s10836-005-5288-5

artikkel kogumikus

121

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Optimization of boundary scan tests using FPGA-based efficient scan architecturesAleksejev, Igor; Devadze, Sergei; Jutman, Artur; Shibin, KonstantinJournal of electronic testing : theory and applications (JETTA)2016 / p. 245-255 : ill https://doi.org/10.1007/s10836-016-5588-y Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

122

artikkel kogumikus

Optimization of memory-constrained hybrid BIST for testing core-based systemsJervan, Gert; Kruus, Helena; Orasson, Elmet; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the IEEE 2nd International Symposium on Industrial Embedded Systems : SIES'2007 : Lisbon, Portugal, 4-6 July 20072007 / p. 71-77 https://ieeexplore.ieee.org/document/4297319

artikkel kogumikus

123

artikkel kogumikus

Optimization of memory-constrained hybrid BIST for testing core-based systemsJervan, Gert; Kruus, Helena; Orasson, Elmet; Ubar, Raimund-JohannesInfo- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum2007 / lk. 133-136 : ill

artikkel kogumikus

124

artikkel ajakirjas

Overview about low-level and high-level decision diagrams for diagnostic modeling of digital systemsUbar, Raimund-JohannesFacta Universitatis [Niš]. Series electronics and energetics2011 / p. 303-324 : ill http://dx.doi.org/10.2298/FUEE1103303U

artikkel ajakirjas

125

artikkel kogumikus

Overview about low-lewel and high-level decision diagrams for diagnostic modeling of digital systemsUbar, Raimund-JohannesProceedings of the Reed-Muller 2011 Workshop : May 25-26, 2011, Tuusula, Finland2011 / p. 1-10 : ill https://scindeks-clanci.ceon.rs/data/pdf/0353-3670/2011/0353-36701103303U.pdf

artikkel kogumikus

digitaaltehnika (märksõna)

teaviku laadid

märksõna 1