Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
hierarchical two-level analysis (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(1/51)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Application specific true critical paths identification in sequential circuits
Jürimägi, Lembit
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Devadze, Sergei
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2019) : 1-3 July 2019, Greece
2019
/
p. 299-304 : ill
https://doi.org/10.1109/IOLTS.2019.8854442
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
51
1.
hierarchical two-level analysis
2.
Hierarchical Multi-level Test Generation
3.
hierarchical cluster analysis (statistics)
4.
hierarchical timing analysis
5.
two-level inverter
6.
gate-level analysis
7.
system-level analysis
8.
logic level and high level BDDs
9.
agglomerative hierarchical clustering
10.
analytical hierarchical process
11.
ascending hierarchical grid system
12.
hierarchical
13.
hierarchical approaches
14.
hierarchical control
15.
hierarchical finite state machine
16.
hierarchical internal variable
17.
hierarchical microstructure
18.
hierarchical modulation
19.
hierarchical service models
20.
hierarchical structure
21.
hierarchical structures
22.
hierarchical testing
23.
synthesis on hierarchical service models
24.
WordNet hierarchical structure
25.
active-passive two-way ranging
26.
combination of two adaptive filters
27.
maximal two-layer exchange
28.
sub-maximal two-layer exchange
29.
two and four contact-point
30.
two term control systems
31.
two-dimensional array testing
32.
two-dimensional heat equation
33.
Two-dimensional materials
34.
two-dimensional model
35.
two-directional flow regulating valve
36.
two-electrode system
37.
two-factor model
38.
two-phase flow
39.
two-phase medium
40.
two-photon absorption
41.
two-photon absorption spectroscopy
42.
two-photon cross section
43.
two-photon excitation fluorescence
44.
two-rate
45.
two–stage DC/DC converter
46.
two-stage onboard battery charger
47.
Two-stage pyrolysis
48.
two-term control
49.
two-way coupling
50.
two-way ranging
51.
two-way relay cooperation
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT