Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
gate-level analysis (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(1/141)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Fast identification of true critical paths in sequential circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Jürimägi, Lembit
Microelectronics reliability
2018
/
p. 252-261 : ill
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2017.11.027
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
2
artikkel kogumikus
Hierarchical timing-critical paths analysis in sequential circuits
Jürimägi, Lembit
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Devadze, Sergei
;
Kostin, Sergei
2018 IEEE 28th International Symposium on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS 2018) : 2 – 4 July 2018, Spain
2018
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/PATMOS.2018.8464176
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
A scalable technique to identify true critical paths in sequential circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Proceedings 2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnotics of Electronic Circuit & Systems(DDECS) : April 19-21, 2017, Dresden, Germany
2017
/
p. 152-157 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7934553
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
võtmesõna
141
1.
gate-level analysis
2.
gate-level circuit abstraction
3.
gate-level netlist
4.
register transfer and gate level simulation
5.
hierarchical two-level analysis
6.
system-level analysis
7.
logic level and high level BDDs
8.
Field Programmable Gate Array (FPGA)
9.
field programmable gate arrays
10.
field-programmable gate array
11.
Field-Programmable Gate Array (FPGA)
12.
field-programmable gate arrays
13.
field-programmable gate arrays (FPGA)
14.
FPGA (field-programmable gate array)
15.
GaTe
16.
gate and register transfer levels
17.
gate delay
18.
gate driver
19.
Gate Injection Transistor (GIT)
20.
Golden gate assembly
21.
insulated gate bipolar transistors
22.
insulated gate-commutated thyristors
23.
NBTI-critical gate
24.
Opal Kelly field programmable gate array (FPGA)
25.
absolute sea level
26.
airport level of service
27.
arousal level
28.
assurance level
29.
behaviour level test generation
30.
bi-level optimization
31.
CO2 level in classrooms
32.
CO2 level in classrooms and kindergartens
33.
confidence level
34.
country-level logistics
35.
customer compatibility level
36.
deep level
37.
deep level traps
38.
determination of the CO2 level
39.
determining the level of creatine
40.
digitalisation level
41.
distribution-level phasor measurement units (D-PMUs)
42.
exposure level
43.
extreme penetration level of non synchronous generation
44.
extreme water level
45.
graduate level
46.
high level DD (HLDD)
47.
high level synthesis
48.
high-level control fault model
49.
high-level control faults
50.
high-level decision diagram
51.
high-level decision diagrams
52.
high-level decision diagrams (HLDD) synthesis
53.
high-level expert group on AI
54.
high-level fault coverage
55.
high-level fault model
56.
high-level fault simulation
57.
high-level functional fault model
58.
high-level synthesis
59.
High-Level Synthesis (HLS)
60.
high-level synthesis for test
61.
high-level test data generation
62.
improvement of safety level at enterprises
63.
improvement of safety level at SMEs
64.
level control
65.
level set
66.
level(s) methodology
67.
level-crossing ADC
68.
level-crossing analog-to-digital converters
69.
level-crossing analogue-to-digital converters (ADC)
70.
logic level
71.
lower trophic level models
72.
low-level control system transportation
73.
low-level fault redundancy
74.
low-level radiation
75.
Low-level RF EMF
76.
macro-level industry influences
77.
mean sea level
78.
module level power electronics (MLPE)
79.
module-level power electronics (MLPE)
80.
multi-level governance
81.
multi-level inverter
82.
multi-level modeling
83.
multi-level perspective
84.
multi-level perspective of sustainability transitions
85.
multi-level selection and processing environment
86.
operational level (OL)
87.
Price level
88.
Process/Product Sigma Performance Level (PSPL)
89.
PV module level power electronics
90.
Register Transfer Level - RTL
91.
register transfer level modeling decision diagams
92.
register-transfer level
93.
relative sea level
94.
relative sea-level change
95.
RH level
96.
school-level policies
97.
sea level
98.
sea level rise
99.
sea level series
100.
sea level trend
101.
sea level: variations and mean
102.
sea-level
103.
sea-level changes
104.
sea-level equation
105.
Sea-level indicator
106.
sea-level prediction
107.
sea-level rise
108.
sea-level trend
109.
service-level agreements
110.
seven-level multilevel
111.
skin conductance level
112.
software level TMR
113.
steel-level bureaucracy
114.
strategic level decision makers
115.
system level hazards
116.
system level test
117.
system planning level
118.
system-level evaluation
119.
task-level uninterrupted presence
120.
three-level
121.
three-level inverter
122.
three-level neutral-point-clamped inverter
123.
three-level NPC inverter
124.
three-level T-type
125.
three-level T-type inverter
126.
three-level T-type quasi-impedance-source inverter (3L-T-type qZSI)
127.
three-level voltage inverter
128.
Tool Confidence Level
129.
top-level domain
130.
transaction-level modeling
131.
treatment level
132.
two-level inverter
133.
undergraduate level
134.
water level
135.
water level fluctuation
136.
water level measurements
137.
water level reconstruction
138.
water-level changes
139.
voltage level
140.
voltage level optimisation
141.
3-level T-type inverter
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT