Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
pattern Generation (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
sõna
algab
täpne vaste
vabatekst
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
sõna
algab
täpne vaste
vabatekst
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
sõna
algab
täpne vaste
vabatekst
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
sõna
algab
täpne vaste
vabatekst
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
sõna
algab
täpne vaste
vabatekst
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/127)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Post-silicon validation of IEEE 1687 reconfigurable scan networks
Damljanovic, Aleksa
;
Jutman, Artur
;
Squillero, Giovanni
;
Tšertov, Anton
2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : proceedings
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791546
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Simulation-based equivalence checking between IEEE 1687 ICL and RTL
Damljanovic, Aleksa
;
Jutman, Artur
;
Portolan, Michele
;
Tšertov, Anton
2019 IEEE International Test Conference (ITC)
2019
/
paper. 7.3, 8 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ITC44170.2019.9000181
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
127
1.
automated test pattern generation
2.
automatic test pattern generation
3.
pattern Generation
4.
architecture pattern
5.
Association pattern mining
6.
circulation pattern
7.
demand time pattern
8.
FP Growth (Frequent-Pattern Growth) algorithm
9.
Image Processing and Pattern Recognition
10.
interaction design pattern
11.
leakage pattern
12.
load pattern
13.
nocturnal nondipping pattern
14.
pattern
15.
pattern classification
16.
pattern enumeration
17.
pattern formation
18.
pattern language
19.
pattern matching
20.
pattern mining for event logs
21.
pattern mining from event logs
22.
pattern mining from log files
23.
pattern of life
24.
pattern recognition
25.
pattern search
26.
phase resolved partial discharge (PRPD) pattern
27.
radio frequency pattern matching
28.
ripple pattern formation
29.
Single far-field pattern
30.
test-pattern
31.
Activity-based demand generation
32.
adaptive test strategy generation
33.
automated code generation
34.
automatic code generation
35.
Automatic generation control
36.
automatic GUI model generation
37.
automatic test case generation
38.
automatic test program generation
39.
behaviour level test generation
40.
building and urban form generation
41.
business model generation
42.
code generation
43.
data set generation
44.
decentralized key generation
45.
disaster alert generation
46.
distributed electricity generation
47.
distributed generation
48.
Distributed Generation (DG)
49.
distributed generation systems
50.
distributed power generation
51.
distrubuted power generation
52.
droplet generation
53.
droplet generation rate control
54.
electric power generation
55.
electricity generation
56.
energy generation
57.
extreme penetration level of non synchronous generation
58.
feasible path generation
59.
fifth generation computer
60.
food waste generation
61.
fourth generation district heating
62.
frequent item generation
63.
functional test generation
64.
generation
65.
generation and transmission expansion planning
66.
Generation Costs
67.
generation of electric energy
68.
generation scheduling
69.
generation succession
70.
heat generation
71.
Hierarchical Multi-level Test Generation
72.
high-level test data generation
73.
highlevel test generation
74.
hydroelectric power generation
75.
hydrogen generation
76.
I–III generation
77.
implementation-independent test generation
78.
job generation
79.
knowledge generation
80.
multisine generation
81.
next generation 4D printing
82.
next generation sequencing
83.
Next-generation probiotics
84.
next-generation sequencing
85.
offline test generation
86.
oil-shale power generation
87.
photovoltaic (PV) generation
88.
photovoltaic generation dispatch
89.
power generation
90.
power generation dispatch
91.
power generation economics
92.
power generation planning
93.
provably correct test generation
94.
PV generation
95.
PV power generation
96.
real-time alert generation
97.
Renewable energy generation
98.
renewable generation
99.
residual generation
100.
retrieval-augmented generation (RAG)
101.
rule generation
102.
Scenario Generation
103.
Second generation bioethanol
104.
second generation of tribology models
105.
second generation sequencing
106.
signal generation
107.
silver generation
108.
sixth-generation (6G)
109.
solar power generation
110.
space generation advisory council
111.
template based sql generation
112.
test generation
113.
test generation and fault diagnosis
114.
Test Group Generation for Detecting Multiple Faults
115.
test program generation
116.
trajectory generation
117.
waste generation
118.
wave generation
119.
WEEE generation
120.
white light generation
121.
wind energy generation
122.
wind generation
123.
wind power generation
124.
16S rRNA gene amplicon next-generation sequencing
125.
4GDH (4th generation district heating)
126.
4th generation district heating
127.
5th generation district heating (5GDH)
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT