Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
automatic test pattern generation (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(1/70)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Design obfuscation versus test
Farahmandi, Farimah
;
Sinanoglu, Ozgur
;
Blanton, Ronald
;
Pagliarini, Samuel Nascimento
2020 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2020, May 25 - 29, 2020, Tallinn, Estonia
2020
/
10 p
https://doi.org/10.1109/ETS48528.2020.9131590
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
70
1.
automatic test pattern generation
2.
automated test pattern generation
3.
automatic test case generation
4.
automatic test program generation
5.
pattern Generation
6.
automatic code generation
7.
Automatic generation control
8.
automatic GUI model generation
9.
test-pattern
10.
adaptive test strategy generation
11.
behaviour level test generation
12.
functional test generation
13.
Hierarchical Multi-level Test Generation
14.
high-level test data generation
15.
highlevel test generation
16.
implementation-independent test generation
17.
offline test generation
18.
provably correct test generation
19.
test generation
20.
test generation and fault diagnosis
21.
Test Group Generation for Detecting Multiple Faults
22.
test program generation
23.
architecture pattern
24.
circulation pattern
25.
demand time pattern
26.
FP Growth (Frequent-Pattern Growth) algorithm
27.
Image Processing and Pattern Recognition
28.
interaction design pattern
29.
load pattern
30.
nocturnal nondipping pattern
31.
pattern
32.
pattern classification
33.
pattern enumeration
34.
pattern formation
35.
pattern language
36.
pattern matching
37.
pattern mining for event logs
38.
pattern mining from event logs
39.
pattern mining from log files
40.
pattern recognition
41.
pattern search
42.
radio frequency pattern matching
43.
ripple pattern formation
44.
Single far-field pattern
45.
automatic AI (autoAI)
46.
automatic assertion mining
47.
automatic calibration
48.
automatic clutch engagement
49.
automatic composition method
50.
automatic control
51.
automatic control systems
52.
automatic controllers
53.
automatic error correction
54.
automatic evaluation
55.
automatic fault diagnosis
56.
Automatic identification system
57.
automatic identification system (AIS)
58.
automatic machine learning (autoML)
59.
automatic model creation
60.
automatic processing of solutions
61.
automatic program synthesis
62.
automatic programming
63.
Automatic Security Verification
64.
automatic speaker verification
65.
automatic speech recognition
66.
automatic tide gauges
67.
automatic weather stations
68.
automatic voltage control
69.
DLL for automatic calibration
70.
verification, assertion-based verification, automatic assertion mining, data mining, association rule mining
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT