Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
automatic test pattern generation (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
sõna
algab
täpne vaste
vabatekst
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
sõna
algab
täpne vaste
vabatekst
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
sõna
algab
täpne vaste
vabatekst
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
sõna
algab
täpne vaste
vabatekst
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
sõna
algab
täpne vaste
vabatekst
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(1/76)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Design obfuscation versus test
Farahmandi, Farimah
;
Sinanoglu, Ozgur
;
Blanton, Ronald
;
Pagliarini, Samuel Nascimento
2020 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2020, May 25 - 29, 2020, Tallinn, Estonia
2020
/
10 p
https://doi.org/10.1109/ETS48528.2020.9131590
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
76
1.
automatic test pattern generation
2.
automated test pattern generation
3.
automatic test case generation
4.
automatic test program generation
5.
pattern Generation
6.
automatic code generation
7.
Automatic generation control
8.
automatic GUI model generation
9.
test-pattern
10.
adaptive test strategy generation
11.
behaviour level test generation
12.
functional test generation
13.
Hierarchical Multi-level Test Generation
14.
high-level test data generation
15.
highlevel test generation
16.
implementation-independent test generation
17.
offline test generation
18.
provably correct test generation
19.
test generation
20.
test generation and fault diagnosis
21.
Test Group Generation for Detecting Multiple Faults
22.
test program generation
23.
architecture pattern
24.
Association pattern mining
25.
circulation pattern
26.
demand time pattern
27.
FP Growth (Frequent-Pattern Growth) algorithm
28.
Image Processing and Pattern Recognition
29.
interaction design pattern
30.
leakage pattern
31.
load pattern
32.
nocturnal nondipping pattern
33.
pattern
34.
pattern classification
35.
pattern enumeration
36.
pattern formation
37.
pattern language
38.
pattern matching
39.
pattern mining for event logs
40.
pattern mining from event logs
41.
pattern mining from log files
42.
pattern of life
43.
pattern recognition
44.
pattern search
45.
phase resolved partial discharge (PRPD) pattern
46.
radio frequency pattern matching
47.
ripple pattern formation
48.
Single far-field pattern
49.
automatic AI (autoAI)
50.
automatic assertion mining
51.
automatic calibration
52.
automatic clutch engagement
53.
automatic composition method
54.
automatic control
55.
automatic control systems
56.
automatic controllers
57.
automatic error correction
58.
automatic evaluation
59.
automatic fault diagnosis
60.
automatic frequency control
61.
Automatic identification system
62.
automatic identification system (AIS)
63.
automatic machine learning (autoML)
64.
automatic model creation
65.
automatic processing of solutions
66.
automatic program synthesis
67.
automatic programming
68.
Automatic Security Verification
69.
automatic speaker verification
70.
automatic speech recognition
71.
automatic tide gauges
72.
automatic weather stations
73.
automatic voltage control
74.
DLL for automatic calibration
75.
Speaker-attributed automatic speech
76.
verification, assertion-based verification, automatic assertion mining, data mining, association rule mining
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT