Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
hard-to-detect faults (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(1/56)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
A DFT scheme to improve coverage of hard-to-detect faults in FinFET SRAMs
Cardoso Medeiros, Guilherme
;
Gürsoy, Cemil Cem
;
Fieback, Moritz
;
Wu, Lizhou
;
Jenihhin, Maksim
;
Taouil, Mottaqiallah
;
Hamdioui, Said
2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 9-13 March 2020, Grenoble, France : proceedings
2020
/
p. 792-797
https://doi.org/10.23919/DATE48585.2020.9116278
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
56
1.
hard-to-detect faults
2.
arc faults
3.
Avoiding Mutual Masking of Multiple Faults
4.
broken rotor bar faults
5.
circuit faults
6.
classification of faults
7.
control faults
8.
Cross-level Modeling of Faults in Digital Systems
9.
faults
10.
faults classification
11.
faults in power system
12.
high impedance faults
13.
high-level control faults
14.
indefinite faults
15.
inter-disk and inter-turn faults
16.
localization of faults
17.
motor faults
18.
multiple faults
19.
non-robust and functional sensitization of delay faults
20.
power distribution faults
21.
power system faults
22.
rotor faults
23.
Safe Faults
24.
Single Stuck-at Faults
25.
stuck-at-faults
26.
tectonic faults
27.
terms-transient faults
28.
Test Group Generation for Detecting Multiple Faults
29.
transient faults
30.
transition delay faults
31.
unknown faults
32.
untestable faults
33.
Al based hard PVD coating
34.
dermal hard tissues
35.
hard carbon
36.
Hard cheese
37.
hard cider
38.
hard coating
39.
hard cyclic viscoplastic deformation
40.
hard facing
41.
Hard magnetic materials
42.
hard material 3D printing
43.
hard metal
44.
hard metals
45.
hard PVD coating
46.
hard template
47.
hard template method
48.
hard-switched converter
49.
hard-tissue resorption
50.
hard-to-reach consumers
51.
hard-to-read people
52.
hick hard roof
53.
PVD hard coating
54.
radiation-hard detectors
55.
radiation-hard electronics
56.
wear by hard particles
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT