Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
error emulation (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(1/43)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Special session: reliability assessment recipes for DNN accelerators
Ahmadilivani, Mohammad Hasan
;
Bosio, Alberto
;
Deveautour, Bastien
;
Dos Santos, Fernando Fernandes
;
Guerrero-Balaguera, Juan-David
;
Jenihhin, Maksim
;
Kritikakou, Angeliki
;
Sierra, Robert Limas
;
Raik, Jaan
;
Taheri, Mahdi
42nd IEEE VLSI Test Symposium, VTS 2024 : proceedings
2024
/
11 p. : ill
https://doi.org/10.1109/VTS60656.2024.10538707
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Seotud publikatsioonid
1
Methods for reliability assessment and enhancement of deep neural networks hardware accelerators = Süvanärvivõrkude riistvara kiirendite töökindluse hindamine ja täiustamine
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
43
1.
error emulation
2.
emulation
3.
fault emulation
4.
assessment error
5.
automatic error correction
6.
bit error rate
7.
Bit Error Rate (BER)
8.
bit-error rate test
9.
conversion error
10.
design error localization
11.
error
12.
error analysis
13.
error correction
14.
error correction code
15.
error detection
16.
error localization
17.
error management
18.
error message
19.
error propagation
20.
error quantification
21.
error source
22.
Estimation error
23.
gating-aware error injection
24.
human error
25.
machine error
26.
maximum permissible error (deviation) of measurement result
27.
mean squared error estimation
28.
measurement error in household surveys
29.
online design error debug
30.
output error
31.
packet error rate
32.
packet error ratio
33.
sampling error
34.
soft error protection
35.
soft-error reliability
36.
symbol error rate
37.
symbol error rate (SER)
38.
tool inclination angle error
39.
truncation error
40.
vector error correction
41.
Vector Error Correction Model
42.
weighted prediction error
43.
word error rate
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT