Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
automated test pattern generation (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(1/62)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
Identifying untestable faults in sequential circuits using test path constraints
Viilukas, Taavi
;
Karputkin, Anton
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Fujiwara, Hideo
Journal of electronic testing : theory and applications (JETTA)
2012
/
p. 511-521 : ill
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
62
1.
automated test pattern generation
2.
automatic test pattern generation
3.
pattern Generation
4.
test-pattern
5.
automated test environment
6.
adaptive test strategy generation
7.
automatic test case generation
8.
automatic test program generation
9.
behaviour level test generation
10.
functional test generation
11.
high-level test data generation
12.
highlevel test generation
13.
implementation-independent test generation
14.
offline test generation
15.
provably correct test generation
16.
test generation
17.
test generation and fault diagnosis
18.
test program generation
19.
architecture pattern
20.
circulation pattern
21.
demand time pattern
22.
FP Growth (Frequent-Pattern Growth) algorithm
23.
Image Processing and Pattern Recognition
24.
interaction design pattern
25.
load pattern
26.
pattern
27.
pattern classification
28.
pattern enumeration
29.
pattern formation
30.
pattern language
31.
pattern matching
32.
pattern mining from event logs
33.
pattern mining from log files
34.
pattern recognition
35.
pattern search
36.
ripple pattern formation
37.
Single far-field pattern
38.
automated Arabic text illustration
39.
Automated Bonding Evaluation System
40.
automated buses
41.
automated control
42.
automated decision making
43.
automated fiber placement
44.
automated fibre placement
45.
Automated guided vehicle (AGV)
46.
automated mobility
47.
automated oral fluid extractor
48.
automated personalised feedback
49.
Automated placement system
50.
Automated Production Systems
51.
automated quality assessment
52.
automated readout
53.
automated reasoning
54.
automated tape
55.
automated tape laying
56.
automated vehicle
57.
automated vehicles
58.
complex automated systems
59.
connected and automated mobility
60.
connected automated vehicles
61.
connected-and-automated mobility
62.
intelligent Automated Inspection
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT