Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
131000
Vaata veel..
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1000*)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
30426
artikkel kogumikus
Hidden champions of Estonia
Riisalu, Rein
;
Leppiman, Anu
Hidden champions in CEE and Turkey : carving out a global Niche
2013
/
p. 183-199 : tab
artikkel kogumikus
30427
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
The hidden power of emotions : How psychological factors influence skill development in smart technology adoption
Gerli, Paolo
;
Clement, Jessica
;
Esposito, Giovanni
;
Mora, Luca
;
Crutzen, Nathalie
Technological Forecasting and Social Change
2022
/
Article nr. 121721
https://doi.org/10.1016/j.techfore.2022.121721
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
30428
artikkel kogumikus
Hidden secrets of transverse coastal upwelling jets revealed using a synergy of data in the Gulf of Finland, Baltic Sea
Delpeche-Ellmann, Nicole Camille
;
Soomere, Tarmo
Abstracts : [BSSC 2019]
2019
/
p. 112
https://www.su.se/polopoly_fs/1.446756.1566224624!/menu/standard/file/abstracts_A5_ny.pdf
artikkel kogumikus
30429
artikkel kogumikus
A hierarchical algorithm for moving vehicle identification based on acoustic noise analysis
Astapov, Sergei
;
Riid, Andri
Proceedings of the 19th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES 2012 : Warsaw, Poland, 24-26 May, 2012
2012
/
p. 467-472 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/6226235
artikkel kogumikus
30430
artikkel kogumikus
Hierarchical analysis of short defects between metal lines in CMOS IC
Pleskacz, Witold A.
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Rakowski, Michal
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kuzmicz, Wieslaw
Proceedings : 11th EUROMICRO Conference on Digital System Design : Architectures, Methods and Tools : (DSD 2008) : September 3-5, 2008, Parma, Italy
2008
/
p. 729-734 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/4669309
artikkel kogumikus
30431
artikkel kogumikus
A hierarchical approach for devising area efficient concurrent online checkers
Niazmand, Behrad
;
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Ghasempouri, Tara
;
Raik, Jaan
;
Jervan, Gert
Proceedings 2nd IEEE International Test Conference in Asia : ITC-Asia 2018, 15-17 August 2018, Harbin, China
2018
/
p. 139-144 : ill
https://doi.org/10.1109/ITC-Asia.2018.00034
artikkel kogumikus
30432
artikkel kogumikus
Hierarchical approach to test generation for digital systems at system, circuit and defect levels
Ubar, Raimund-Johannes
45. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, 04.-06.10.2000 : Tagungsband
2000
/
S. 711-716 : Ill
artikkel kogumikus
30433
artikkel ajakirjas
Hierarchical approaches to test generation and fault simulation
Ubar, Raimund-Johannes
Radioelectronics and informatics
2003
/
p. 204
artikkel ajakirjas
30434
artikkel kogumikus
Hierarchical attention network to manage processing resources of CPSs
Tammemäe, Kalle
SelPhyS Program
2017
https://www.ict.tuwien.ac.at/selphys2017/program
artikkel kogumikus
30435
artikkel kogumikus
A hierarchical automatic test pattern generator based on using alternative graphs
Brik, Marina
;
Jervan, Gert
;
Markus, Antti
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the 4th International Workshop Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES'97 : Poznan, Poland, 12-14 June 1997
1997
/
p. 415-420
artikkel kogumikus
30436
artikkel kogumikus
Hierarchical calculation of malicious faults for evaluating the fault-tolerance
Ubar, Raimund-Johannes
;
Devadze, Sergei
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Jervan, Gert
;
Ellervee, Peeter
Proceedings : Fourth IEEE International Symposium on Electronic Design, Test and Applications : [DELTA 2008] : 23-25 January 2008, Hong Kong, SAR, China
2008
/
p. 222-227 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/4459544
artikkel kogumikus
30437
artikkel ajakirjas
Hierarchical conceptual clustering based on quantile method for identifying microscopic details in distributional data
Umbleja, Kadri
;
Ichino, Manabu
;
Yaguchi, Hiroyuki
Advances in data analysis and classification
2020
/
30 p. : ill
https://doi.org/10.1007/s11634-020-00411-w
artikkel ajakirjas
30438
artikkel kogumikus
Hierarchical concurrent test generation for synchronous sequential circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Brik, Marina
Proceedings of the 7th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES 2000 : Gdynia, Poland, 15-17 June 2000
2000
/
p. 533-538 : ill
artikkel kogumikus
30439
artikkel kogumikus
Hierarchical defect level test quality analysis
Blyzniuk, M.
;
Cibakova, Tatiana
;
Gramatova, Elena
;
Kuzmicz, W.
;
Lobur, M.
;
Pleskacz, Witold A.
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
VILAB User Forum
2000
/
[11] p
artikkel kogumikus
30440
artikkel kogumikus
Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuits
Blyzniuk, M.
;
Cibakova, Tatiana
;
Gramatova, Elena
;
Kuzmicz, W.
;
Lobur, M.
;
Pleskacz, Witold A.
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
IEEE European Test Workshop
2000
/
p. 151-156
https://ieeexplore.ieee.org/document/873781
artikkel kogumikus
30441
artikkel kogumikus
Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuits
Blyzniuk, M.
;
Cibakova, Tatiana
;
Gramatova, Elena
;
Kuzmicz, W.
;
Lobur, M.
;
Pleskacz, Witold A.
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
IEEE European Test Workshop : 23-26 May 2000, Cascais, Portugal : ETW 2000 : proceedings
2000
/
p. 69-74 : ill
artikkel kogumikus
30442
artikkel kogumikus
Hierarchical design error diagnosis in combinational circuits by stuck-at fault test patterns
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jutman, Artur
Proceedings of the 6th International Conference on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES'99 : Krakow, Poland, 17-19 June 1999
1999
/
p. 437-442 : ill
artikkel kogumikus
30443
artikkel kogumikus
Hierarchical fault diagnosis in embedded digital systems with multi-level decision diagrams [Electronic resource]
Ubar, Raimund-Johannes
;
Evartson, Teet
;
Lensen, Harri
;
Aarna, Margit
5th International Conference on Industrial Automation = Cinquieme Conference Internationale sur l'Automatisation Industrielle : June 11-13, 2007, Montreal, Canada
2007
/
[6] p. [CD-ROM]
artikkel kogumikus
30444
artikkel kogumikus
Hierarchical fault simulation for finite state machines
Brik, Marina
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
The 7th Biennial Conference on Electronics and Microsystem Technology "Baltic Electronics Conference" : BEC 2000 : October 8 - 11, 2000, Tallinn, Estonia : conference proceedings
2000
/
p. 145-148 : ill
artikkel kogumikus
30445
artikkel kogumikus
Hierarchical fault simulation in digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Ivask, Eero
;
Brik, Marina
International Symposium on Signals, Circuits and Systems : SCS 2001 : July 10-11, 2001, Iasi, Romania : proceedings
2001
/
p. 181-184 : ill
artikkel kogumikus
30446
artikkel kogumikus
Hierarchical identification of NBTI-critical gates in nanoscale logic
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
LATW2014 : 15th IEEE Latin-American Test Workshop : Fortaleza, Brazil, March 12th-15th, 2014
2014
/
[6] p. : ill
artikkel kogumikus
30447
artikkel kogumikus
Hierarchical identification of untestable faults in sequential circuits
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Krivenko, Anna
;
Kruus, Margus
10th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools, DSD 2007 : 29-31 August 2007, Lübeck, Germany : proceedings
2007
/
p. 668-671 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2007.4341539
artikkel kogumikus
30448
artikkel kogumikus
Hierarchical language for development of distributed algorithms
Kaldma, Tarmo
Proceedings of the Fourth Symposium on Programming Languages and Software Tools, Visegrad, Hungary, June 9-10, 1995
1995
/
p. 195-208
artikkel kogumikus
30449
artikkel kogumikus
Hierarchical language for development of distributed algorithms
Kaldma, Tarmo
The 3rd Baltic Summer School on Information Technology and Systems Engineering, 1-5 August, 1995, Klaipeda : theses
1995
/
p. 25-28
artikkel kogumikus
30450
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Hierarchical microstructures and strengthening mechanisms of nano-TiC reinforced CoCrFeMnNi high-entropy alloy composites prepared by laser powder bed fusion
Chen, Hongyu
;
Kosiba, Konrad
;
Lu, Twen
;
Yao, Ning
;
Liu, Yang
;
Wang, Yonggang
;
Prashanth, Konda Gokuldoss
;
Suryanarayana, Challapalli
Journal of Materials Science & Technology
2023
/
p. 245-259 : ill
https://doi.org/10.1016/j.jmst.2022.06.053
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 131000, kuvan
30426 - 30450
eelmine
1214
1215
1216
1217
1218
1219
1220
1221
1222
1223
järgmine
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT