Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
131728
Vaata veel..
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1000*)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
93101
artikkel kogumikus
Test generation for digital systems based on alternative graphs
Ubar, Raimund-Johannes
Dependable Computing - EDCC-1 : First European Dependable Computing Conference, Berlin, Germany, October 1994 : proceedings
1994
/
p. 151-164: ill
artikkel kogumikus
93102
artikkel ajakirjas
Test generation for expert systems with fuzzy truth values
Tepandi, Jaak
Bulletin for studies and exchanges in fuzziness and its applications
1989
/
p. 83-92
artikkel ajakirjas
93103
artikkel kogumikus
Test generation for finite state machines
Ubar, Raimund-Johannes
;
Brik, Marina
BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings
1996
/
p. 233-236: ill
artikkel kogumikus
93104
artikkel kogumikus
Test generation for microprocessor control mechanisms
Lohuaru, Tõnu
;
Ubar, Raimund-Johannes
FTSD-10 : Deseta Mezdunarodnaja Konferencija "Nadezdnost i Diagnostika na ECM. Mikrokompjutri i Sistemi", Varna, Bulgaria, 1987 = 10th International Conference on Fault-Tolerant Systems and Diagnostics (1987)
1987
/
p. 305-311
artikkel kogumikus
93105
artikkel kogumikus
Test generation for microprocessors on alternative graphs
Alango, Villem
;
Kont, Toomas
;
Ubar, Raimund-Johannes
33. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium : 24.-28.10.1988. H.3 Vortragsreihe B, technische und angewandte Informatik/Computertechnik
1988
/
p. 11-14
artikkel kogumikus
93106
artikkel kogumikus
Test generation for sequential digital systems based on symbolic simulation
Skobtsov, Vadim
;
Skobtsov, Yu.
BEC'98 : the 6th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology, October 7-9, 1998, Tallinn, Estonia : proceedings
1998
/
p. 341-344: ill
artikkel kogumikus
93107
artikkel kogumikus
Test generation techniques and algorithms
Ubar, Raimund-Johannes
;
Gramatova, Elena
;
Fisherova, Maria
Handbook of testing electronic systems
2005
/
p. 99-173 : ill
artikkel kogumikus
93108
artikkel kogumikus
Test generation with structurally synthesized BDD models
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the 5th Electronic Devices and Systems Conference, Brno, June 11-12, 1998
1998
/
p. 66-68
artikkel kogumikus
93109
artikkel kogumikus
Test method for determining radiation absorptivity and emissivity coefficients of ACSR conductors
Kiitam, Ivar
18th International Symposium "Topical Problems in the Field of Electrical and Power Engineering". Doctoral School of Energy and Geotechnology III : Toila, Estonia, January 14-19, 2019 : [proceedings]
2019
/
p. 185-186 : ill
https://www.ester.ee/record=b5183874*est
artikkel kogumikus
93110
artikkel ajakirjas
Test method for the total content of non-volatile phenols in wastewater
Johannes, Ille
;
Mölder, Leevi
;
Tiikma, Laine
Oil shale
1998
/
3, p. 232-238
artikkel ajakirjas
93111
artikkel ajakirjas
Test methods for crosstalk-induced delay and glitch faults in network-on-chip interconnects implementing asynchronous communication protocols
Bengtsson, Tomas
;
Kumar, Shashi
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jutman, Artur
;
Peng, Zebo
IET computers and digital techniques
2008
/
6, p. 445-460
artikkel ajakirjas
93112
artikkel kogumikus
Test methods for determination of design parameters for fasteners
Franke, Steffen
;
Franke, Bettina
;
Tuhkanen, Eero
Design of connections in timber structures : a state-of-the-art report by COST action FP1402/WG3
2018
/
p. 33–59 : ill
https://www.costfp1402.tum.de/fileadmin/w00btl/www/All_Members/Sandhaas__C.__Munch-Andersen__J._Dietsch__P.__Design_of_Connections_in_Timber_Structures.pdf
artikkel kogumikus
93113
artikkel kogumikus
Test pattern generation at the behavioral level from VHDL circuit description containing several processes
Gramatova, Elena
;
Bezakova, Jana
;
Cibakova, Tatiana
BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings
1996
/
p. 145-148
artikkel kogumikus
93114
artikkel kogumikus
Test pattern generation for microprocessor systems on the alternative graph model
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the 3rd Symposium of the IMEKO Technical Committee on Technical Diagnostics (TC10), held in Moscow, October 3 - 5, 1983
1985
/
p. 403-410
artikkel kogumikus
93115
dissertatsioon
Test program generation for microprocessor systems
Dušina, Julia
1993
https://www.ester.ee/record=b2090526*est
dissertatsioon
93116
artikkel kogumikus
Test results of practical value-centric business development methodology
Randmaa, Merili
;
Otto, Tauno
;
Howard, Thomas J.
Proceedings of NordDesign 2014 Conference
2014
/
p. 642-651 : ill
artikkel kogumikus
93117
artikkel kogumikus
Test scenario generator learning for model-based testing of mobile robots
Kanter, Gert
;
Liibert, Marti Ingmar
System assurances : modeling and management
2022
/
p. 67-84
https://doi.org/10.1016/B978-0-323-90240-3.00005-9
artikkel kogumikus
93118
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Test scenario specification language for model-based testing
Halling, Evelin
;
Vain, Jüri
;
Boyarchuk, Artem
;
Illiashenko, Oleg
International Journal of Computing
2019
/
p. 408-421 : ill
http://www.computingonline.net/computing/article/view/1611
https://doi.org/10.47839/ijc.18.4.1611
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
93119
artikkel kogumikus
Test set minimization using bipartite graphs
Markus, Antti
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC'98 : the 6th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology, October 7-9, 1998, Tallinn, Estonia : proceedings
1998
/
p. 175-178: ill
artikkel kogumikus
93120
artikkel kogumikus
Test setup for measuring medium voltage power cable and joint temperature in high current tests using thermocouples [Online resource]
Taklaja, Paul
;
Kiitam, Ivar
;
Hyvönen, Petri
;
Klüss, Joni
34th Electrical Insulation Conference : Hotel Bonaventure, Montreal, Qc, Canada, 19-22 June 2016 : proceedings
2016
/
p. 480-483 : ill
https://doi.org/10.1109/EIC.2016.7548642
artikkel kogumikus
93121
artikkel kogumikus
Test strategy for a 486 computer multichip module
Magnhagen, Bengt
BEC'98 : the 6th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology, October 7-9, 1998, Tallinn, Estonia : proceedings
1998
/
p. 339-340: ill
artikkel kogumikus
93122
artikkel kogumikus
Test synthesis from register-transfer level descriptions
Raik, Jaan
;
Paomets, Priidu
BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings
1996
/
p. 311-314: ill
artikkel kogumikus
93123
artikkel ajakirjas
Test synthesis with alternative graphs
Ubar, Raimund-Johannes
IEEE design & test of computers
1996
/
Spring, p. 48-57: ill
artikkel ajakirjas
93124
artikkel ajakirjas
Test system for fault detection and diagnosis in microprocessor control devices
Ubar, Raimund-Johannes
;
Lohuaru, Tõnu
;
Männisalu, Mati
;
Pukk, P.
;
Vanamölder, E.
Tallinna Tehnikaülikooli Toimetised
1990
/
lk. 63-77: ill
artikkel ajakirjas
93125
artikkel kogumikus
Test time minimization for hybrid BIST of core-based systems
Jervan, Gert
;
Eles, Petru
;
Peng, Zebo
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
12th Asian Test Symposium (ATS 2003) : 17-19 November 2003, Xian, China
2003
/
p. 318-325 : ill
https://link.springer.com/article/10.1007/s11390-006-0907-x
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 131728, kuvan
93101 - 93125
eelmine
3721
3722
3723
3724
3725
3726
3727
3728
3729
3730
järgmine
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT