Combinational fault simulation in sequential circuits
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Kõusaar, Jaak
Gorev, Maksim
Devadze, Sergei
vastutusandmed
Raimund Ubar, Jaak Kõusaar, Maksim Gorev, Sergei Devadze
allikas
2015 IEEE International Symposium on Circuits and Systems : 24-27 May 2015, Lisboa, Portugal : [proceedings]
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2015
leheküljed
p. 2876-2879 : ill
konverentsi nimetus, aeg
2015 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, 24-27 May, 2015
konverentsi toimumispaik
Lisboa, Portugal
märksõna
elektronlülitused
rikked
diagnostika (tehnika)
kompuutersimulatsioon
algoritmid
võtmesõna
sequential circuits
stuck-at-faults
design for testability
fault simulation with critical path tracing
ISBN
978-1-4799-8391-9
märkused
Bibliogr.: 16 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise