Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
elektronlülitused (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
55
Vaata veel..
(1/1)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(55)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
A scalable technique to identify true critical paths in sequential circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Proceedings 2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnotics of Electronic Circuit & Systems(DDECS) : April 19-21, 2017, Dresden, Germany
2017
/
p. 152-157 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7934553
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
A tool set for teaching design-for-testability of digital circuits
Kostin, Sergei
;
Orasson, Elmet
;
Ubar, Raimund-Johannes
EWME 2016 : 11th European Workshop on Microelectronics Education : May 11-13, 2016, Southampton, UK
2016
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/EWME.2016.7496466
artikkel kogumikus
3
raamat
Boole'i algebra kasutamine automaatikalülituste projekteerimisel : loengukonspekt
Agur, Ustus
1972
https://www.ester.ee/record=b1327567*est
raamat
4
artikkel ajakirjas
Calculation of probabilistic testability measures for digital circuits with Structurally Synthesized BDDs
Jürimägi, Lembit
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Microprocessors and microsystems
2020
/
art. 103117, 12 p
https://doi.org/10.1016/j.micpro.2020.103117
artikkel ajakirjas
5
artikkel kogumikus
Combinational fault simulation in sequential circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kõusaar, Jaak
;
Gorev, Maksim
;
Devadze, Sergei
2015 IEEE International Symposium on Circuits and Systems : 24-27 May 2015, Lisboa, Portugal : [proceedings]
2015
/
p. 2876-2879 : ill
artikkel kogumikus
6
artikkel kogumikus
Complex delay fault reasoning with sequential 7-valued algebra
Kõusaar, Jaak
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Aleksejev, Igor
2015 16th Latin American Test Symposium (LATS 2015) : Puerto Vallarta, Mexico, 25-27 March 2015
2015
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2015.7102403
artikkel kogumikus
7
raamat
Computational aspects of nodal method for simulation of electronic circuits
Laksberg, Edgar
1983
raamat
8
artikkel ajakirjas
Computer-aided examination of the I²L current source and the behaviour of the I²L flip-flop used in static memory cells
Rang, Toomas
Periodica polytechnica. Electrical engineering = Электротехника
1981
/
p. 159-165 : joon
https://www.ester.ee/record=b1198855*est
https://pp.bme.hu/ee/article/view/4776/3881
artikkel ajakirjas
9
artikkel kogumikus
Conditional fault collapsing in digital circuits with shared structurally synthesized BDDs [Online resource]
Jürimägi, Lembit
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2018 : 2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) : proceedings of the 16th Biennial Baltic Electronics Conference, October 8-10, 2018
2018
/
4 p. : ill
https://doi.org/10.1109/BEC.2018.8600967
artikkel kogumikus
10
artikkel kogumikus
Critical path tracing based simulation of transition delay faults
Kõusaar, Jaak
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
2014 17th Euromicro Conference on Digital System Design : DSD 2014 : 27-29 August 2014, Verona, Italy : proceedings
2014
/
p. 108-113 : ill
artikkel kogumikus
11
artikkel kogumikus
Critical path tracing based simulation of transition delay faults
Kõusaar, Jaak
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
Proceedings of the 8th Annual Conference of the Estonian National Doctoral School in Information and Communication Technologies : December 5-6, 2014, Rakvere
2014
/
p. 61-66 : ill
artikkel kogumikus
12
artikkel ajakirjas
Design error diagnosis in digital circuits with stuck-at fault model
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
Microelectronics reliability
2000
/
2, p. 307-320 : ill
artikkel ajakirjas
13
raamat
Digitaalsüsteemide diagnostika
Ubar, Raimund-Johannes
2005
http://www.ester.ee/record=b2097071*est
raamat
14
artikkel kogumikus
Ein universeller Weg zur Automatisierung des Testentwurfs für digitale Objecte
Ubar, Raimund-Johannes
;
Lohuaru, Tõnu
Fehler in Automaten
1989
/
S. 16-30 : Ill
artikkel kogumikus
15
raamat
Electronic circuits : examples for project based subject "Technologies of electronic products"
Sillakivi, Peeter
;
Tamm, Uljas
2003
https://www.ester.ee/record=b1828290*est
raamat
16
raamat
Elektronlülitused : näidisskeemid projektipõhilisele õppeainele "Elektrontoodete tehnoloogiad"
2003
https://www.ester.ee/record=b1828299*est
raamat
17
raamat
European Test Symposium : ETS 2005 : 22-25 May 2005, Tallinn, Estonia : proceedings
Cantarella, JD
2005
https://www.ester.ee/record=b2300865*est
raamat
18
artikkel ajakirjas
Exact parallel critical path fault tracing to speed-up fault simulation in sequential circuits
Kõusaar, Jaak
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
International journal of microelectronics and computer science
2018
/
p. 9−18
https://ijmcs.dmcs.pl/web/guest/vol.-9-no.-1
https://ijmcs.dmcs.pl/documents/10630/345460/IJMCS_1_2018_2.pdf
artikkel ajakirjas
19
artikkel ajakirjas
Fast identification of true critical paths in sequential circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Jürimägi, Lembit
Microelectronics reliability
2018
/
p. 252-261 : ill
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2017.11.027
artikkel ajakirjas
20
artikkel kogumikus
Fault simulation with parallel exact critical path tracing in multiple core environment
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Devadze, Sergei
Proceedings of the 2015 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) : 9-13 March 2015, Grenoble, France
2015
/
p. 1180-1185 : ill
artikkel kogumikus
21
raamat
Handbook of testing electronic systems
Novak, Ondrej
;
Gramatova, Elena
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jutman, Artur
;
Raik, Jaan
2005
https://www.ester.ee/record=b2102523*est
raamat
22
artikkel kogumikus
Hierarchical identification of NBTI-critical gates in nanoscale logic
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
LATW2014 : 15th IEEE Latin-American Test Workshop : Fortaleza, Brazil, March 12th-15th, 2014
2014
/
[6] p. : ill
artikkel kogumikus
23
artikkel kogumikus
Hierarchical identification of untestable faults in sequential circuits
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Krivenko, Anna
;
Kruus, Margus
10th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools, DSD 2007 : 29-31 August 2007, Lübeck, Germany : proceedings
2007
/
p. 668-671 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2007.4341539
artikkel kogumikus
24
artikkel ajakirjas
Identification and rejuvenation of NBTI-critical logic paths in nanoscale circuits
Jenihhin, Maksim
;
Squillero, Giovanni
;
Tihhomirov, Valentin
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Journal of electronic testing : theory and applications (JETTA)
2016
/
p. 273-289 : ill
http://dx.doi.org/10.1007/s10836-016-5589-x
artikkel ajakirjas
25
artikkel kogumikus
Identification and rejuvenation of NBTI-critical paths in nanoscale logic circuits
Jenihhin, Maksim
1st International Workshop on Reliability and Aging in Forthcoming Electronic Systems : May 28-29, 2015, Cluj-Napoca, Romania
2015
/
[1] p
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 55, kuvan
1 - 25
eelmine
1
2
3
järgmine
märksõna
1
1.
elektronlülitused
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT