On NBTI-induced aging analysis in IEEE 1687 reconfigurable scan networks

vastutusandmed
Aleksa Damljanovic, Giovanni Squillero, Cemil Cem Güursoy, Maksim Jenihhin
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 335-340 : ill
konverentsi nimetus, aeg
27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, October 6-9, 2019
konverentsi toimumispaik
Cusco, Peru
võtmesõna
ISSN
2324-8440
2324-8432
ISBN
978-1-7281-3915-9
978-1-7281-3916-6
märkused
Bibliogr.: 22 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Damljanovic, A., Squillero, G., Gürsoy, C. C., Jenihhin, M. On NBTI-induced aging analysis in IEEE 1687 reconfigurable scan networks // VLSI-SoC 2019 : 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration : [proceedings]. Piscataway : IEEE, 2019. p. 335-340 : ill.