Test generation : a hierarchical approach

vastutusandmed
G.Jervan, R.Ubar, Z.Peng, P.Eles
ilmumiskoht
London
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 67-81 : ill
ISBN
1-85233-899-7
märkused
(Advanced microelectronics, ISSN 1437-0387 ; 17). Bibliogr.: 18 ref
Jervan, G., Ubar, R.-J., Peng, Z., Eles, P. Test generation : a hierarchical approach // System-level test and validation of hardware/software systems. London : Springer, 2005. p. 67-81 : ill.