Efficient at-speed interconnect BIST and diagnosis framework

vastutusandmed
Artur Jutman
ilmumiskoht
[Tallinn
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 257-258 : ill
märkused
Bibliogr.: 8 ref
Jutman, A. Efficient at-speed interconnect BIST and diagnosis framework // Informal Digest of Papers : 10 IEEE European Test Symposium : Tallinn, Estonia, May 22-25, 2005. [Tallinn : Tallinn University of Technology], 2005. p. 257-258 : ill.