Убар Р., Душина Ю., Заугаров В., Крупнова Е., Сторожев С.

full record print

Система генерирования тестов для микропроцессоров

author

Ubar, Raimund-Johannes

Dušina, Julia

Zaugarov, Viktor

Крупнова Е.

Storožev, Sergei

statement of authorship

Р.Убар, Ю.Душина, В.Заугаров, Е.Крупнова, С.Сторожев

source

Proceedings of international conference "Technical Diagnostics-93", St.-Peterburg, June 8-10, 1993

location of publication

St.-Peterburg

year of publication

1993

pages

p. 87-89

language

vene

Märksõnad ja võtmesõnad

subject term

mikroprotsessorid

testid

Убар Р., Душина Ю., Заугаров В., Крупнова Е., Сторожев С. Система генерирования тестов для микропроцессоров // Proceedings of international conference "Technical Diagnostics-93", St.-Peterburg, June 8-10, 1993. St.-Peterburg, 1993. p. 87-89.