Система генерирования тестов для микропроцессоров
vastutusandmed
Р.Убар, Ю.Душина, В.Заугаров, Е.Крупнова, С.Сторожев
allikas
Proceedings of international conference "Technical Diagnostics-93", St.-Peterburg, June 8-10, 1993
ilmumiskoht
St.-Peterburg
ilmumisaasta
leheküljed
p. 87-89
märksõna
keel
vene
Убар Р., Душина Ю., Заугаров В., Крупнова Е., Сторожев С. Система генерирования тестов для микропроцессоров // Proceedings of international conference "Technical Diagnostics-93", St.-Peterburg, June 8-10, 1993. St.-Peterburg, 1993. p. 87-89.