Убар Р., Душина Ю., Заугаров В., Крупнова Е., Сторожев С.

täiskirje prindi

Система генерирования тестов для микропроцессоров

autor

Ubar, Raimund-Johannes

Dušina, Julia

Zaugarov, Viktor

Крупнова Е.

Storožev, Sergei

vastutusandmed

Р.Убар, Ю.Душина, В.Заугаров, Е.Крупнова, С.Сторожев

allikas

Proceedings of international conference "Technical Diagnostics-93", St.-Peterburg, June 8-10, 1993

ilmumiskoht

St.-Peterburg

ilmumisaasta

1993

leheküljed

p. 87-89

keel

vene

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

mikroprotsessorid

testid

Убар Р., Душина Ю., Заугаров В., Крупнова Е., Сторожев С. Система генерирования тестов для микропроцессоров // Proceedings of international conference "Technical Diagnostics-93", St.-Peterburg, June 8-10, 1993. St.-Peterburg, 1993. p. 87-89.