Генерирование тестов микропроцессорных систем на модели АГ
author
Ubar, Raimund-Johannes
statement of authorship
Убар, Р.
source
Техническая диагностика : Тезисы докладов III Международного симпозиума ИМЕКО, Москва, окт. 1983
location of publication
Москва
publisher
Ин-т пробл. упр.
year of publication
1983
pages
с. 100-103
conference name, date
III Международный симпозиум ИМЕКО, окт. 1983
conference location
Москва
subject term
mikroprotsessorid
testimine
matemaatilised mudelid
TalTech department
elektronarvutite kateeder
language
vene