full record print

Метод исследования технологического процесса производства интегральных микросхем, основанный на анализе кластеров состояний

Рятсеп, Ю.П., Тээвет, Дж.-Т.Э. Метод исследования технологического процесса производства интегральных микросхем, основанный на анализе кластеров состояний // Методы и средства обработки сигналов при наличии шумов. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1982. с. 39-43. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 540, Радиотехника ; 10).