Fault effect reasoning in digital systems by topological view on low- and high-level decision diagrams
author
Ubar, Raimund-Johannes
statement of authorship
Raimund Ubar
source
Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика
journal volume number month
Но. 3
year of publication
2014
pages
p. 99-113 : ill
url
http://journals.tsu.ru/informatics/&journal_page=archive&id=923&article_id=12107
subject term
integraallülitused
testimine
otsustusdiagrammid
keyword
binary decision diagrams (BDD)
structurally synthesized BDD (SSBDD)
shared SSBDD (SSSBDD)
high level DD (HLDD)
test generation and fault diagnosis
ISSN
1998-8605
notes
Bibliogr.: 49 ref
Kokkuvõte: Влияние неисправностей цифровых систем на топологию решающих диаграмм низкого и высокого уровней
TTÜ department
arvutitehnika instituut
language
inglise