Constraint-based hierarchical untestability identification for syncronous sequential circuits
author
Viilukas, Taavi
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
Rannaste, Anna
Jenihhin, Maksim
Fujiwara, Hideo
statement of authorship
Taavi Viilukas, Jaan Raik, Raimund Ubar, Anna Rannaste, Maksim Jenihhin, Hideo Fujiwara
source
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK viienda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. novembril 2011, Nelijärve
location of publication
[Tallinn]
publisher
[Tallinna Tehnikaülikooli kirjastus]
year of publication
2011
pages
p. 139-142 : ill
conference name, date
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK viies aastakonverents, 25.-26. november 2011
conference location
Nelijärve
subject term
digitaalintegraallülitused
testid
testimine
ISBN
978-9949-23-218-5
notes
Bibliogr.: 19 ref
language
inglise