Automated test pattern generator with constraint solver
author
Viilukas, Taavi
Raik, Jaan
statement of authorship
Taavi Viilukas, Jaan Raik
source
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 26.-27. novembril 2010, Essu mõis
location of publication
[Tallinn]
publisher
[Tallinna Tehnikaülikooli kirjastus]
year of publication
2010
pages
lk. 33-36
conference name, date
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljas aastakonverents, 26.-27. novembril 2010
conference location
Essu mõis
subject term
digitaalintegraallülitused
testimine
testid
raalteimimine
ISBN
978-9949-23-044-0
notes
Bibliogr.: 3 ref
language
inglise