full record print

Влияние технологического микроклимата на качество изделий микроэлектроники

author
Kaipoksin, L.
Puusepp, Ü.
Rätsep, Ülo
Teevet, J.-T.
statement of authorship
Кайпоксин, Л., Пуусеп, Ю., Рятсеп, Ю., Тээвет, Дж.-Т.
source
publisher
journal volume number month
2
year of publication
pages
с. 76-79 : илл
url
ISSN
0207-6357
notes
Библиогр.: 2 назв.
language
vene
Кайпоксин, Л., Пуусеп, Ю., Рятсеп, Ю., Тээвет, Дж.-Т. Влияние технологического микроклимата на качество изделий микроэлектроники // Электронная промышленность : ЭП : научно-технический сборник (1983) 2, с. 76-79 : илл. https://www.ester.ee/record=b1802011*est