täiskirje prindi

Влияние технологического микроклимата на качество изделий микроэлектроники

autor
Kaipoksin, L.
Puusepp, Ü.
Rätsep, Ülo
Teevet, J.-T.
vastutusandmed
Кайпоксин, Л., Пуусеп, Ю., Рятсеп, Ю., Тээвет, Дж.-Т.
allikas
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
2
ilmumisaasta
leheküljed
с. 76-79 : илл
leitav
ISSN
0207-6357
märkused
Библиогр.: 2 назв.
keel
vene
Кайпоксин, Л., Пуусеп, Ю., Рятсеп, Ю., Тээвет, Дж.-Т. Влияние технологического микроклимата на качество изделий микроэлектроники // Электронная промышленность : ЭП : научно-технический сборник (1983) 2, с. 76-79 : илл. https://www.ester.ee/record=b1802011*est