Fault modeling and test generation with low- and high-level decision diagrams
author
statement of authorship
Raimond Ubar
source
24. GI/GMM/ITG-Workshop : Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen
location of publication
[Cottbus]
publisher
[Brandenburgische Technische Universität Cottbus]
year of publication
pages
p. 1-12
conference name, date
24. GI/GMM/ITG-Workshop: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, 26.-28. Februar, 2012
conference location
Cottbus, Germany
language
inglise
Ubar, R. Fault modeling and test generation with low- and high-level decision diagrams // 24. GI/GMM/ITG-Workshop : Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen. [Cottbus] : [Brandenburgische Technische Universität Cottbus], 2012. p. 1-12.