Design and test technology for dependable systems-on-chip
editor
Ubar, Raimund-Johannes
Raik, Jaan
Vierhaus, Heinrich Theodor
statement of authorship
[editors] Raimund Ubar, Jaan Raik, Heinrich Theodor Vierhaus
location of publication
Hershey
publisher
Information Science Reference
year of publication
2011
pages
550 p. : ill
url
https://www.ester.ee/record=b4467408*est
subject term
integraallülitused
digitaalintegraallülitused
kiipvõrgud
mikroprotsessortehnika
projekteerimine
süsteemide projekteerimine
testimine
tõrketaluvus
mikroelektroonika
ISBN
978-1-60960-212-3
language
inglise