An automatic test generation system for microprocessor VLSI
author
location of publication
Tallinn
publisher
year of publication
pages
p. 104-113
series
series variant title
TTÜ Toimetised ; 696
Труды ТТУ ; 696
notes
Bibliogr. : 5 ref
language
inglise
TTÜ subject term
Kont, T. An automatic test generation system for microprocessor VLSI // Машинное проектирование электронных устройств и систем. Tallinn : Tallina Tehnikaülikool, 1989. p. 104-113. (Tallinna Tehnikaülikooli toimetised = Труды Таллинского технического университета = Transactions of Tallinn Technical University ; 696, Электротехника и автоматика ; 37).