European Test Symposium : ETS 2005 : 22-25 May 2005, Tallinn, Estonia : proceedings
author
Cantarella, JD
statement of authorship
[editorial production by JD Cantarella]
location of publication
Los Alamitos (Calif.)
publisher
IEEE Computer Society
year of publication
2005
pages
xiv, 230 p. : ill
url
https://www.ester.ee/record=b2300865*est
subject term
mikroelektroonika
elektronlülitused
integraallülitused
testimine
subject of form
konverentsikogumikud
name of the person
Ubar, Raimund-Johannes, 1941-
Raik, Jaan, 1972-
ISBN
0-7695-2341-2
notes
Sisaldab TTÜ õppejõudude ettekannete kokkuvõtteid ja lk. ix organiseerimiskomitee liikmete portreed, TTÜst R.Ubar ja J.Raik
Teavikus puudub ilmumisaasta
language
inglise