Прогнозирование качества интегральных микросхем на основе кластеров состояний
location of publication
Таллин
publisher
year of publication
pages
с. 111-115
series
series variant title
TPI Toimetised ; 582
Труды ТПИ ; 582
notes
Библиогр. : 4 назв
language
vene
subject term
TTÜ subject term
Бударин, В.Н., Рятсеп, Ю.П., Тээвет, Дж.-Т.Э. Прогнозирование качества интегральных микросхем на основе кластеров состояний // Методы и средства цифровой обработки сигналов. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1984. с. 111-115. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 582, Радиотехника ; 10).