Прогнозирование качества интегральных микросхем на основе кластеров состояний
ilmumiskoht
Таллин
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
с. 111-115
seeria-sari
seeria variantpealkiri
TPI Toimetised ; 582
Труды ТПИ ; 582
märkused
Библиогр. : 4 назв
keel
vene
märksõna
TTÜ märksõna
Бударин, В.Н., Рятсеп, Ю.П., Тээвет, Дж.-Т.Э. Прогнозирование качества интегральных микросхем на основе кластеров состояний // Методы и средства цифровой обработки сигналов. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1984. с. 111-115. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 582, Радиотехника ; 10).