prindi

Прогнозирование качества интегральных микросхем на основе кластеров состояний

autor
Budarin, Vladimir
Rätsep, Ülo
Teevet, J.-T.
allikas
Методы и средства цифровой обработки сигналов
ilmumiskoht
Таллин
kirjastus/väljaandja
Таллинский политехнический институт
ilmumisaasta
1984
leheküljed
с. 111-115
seeria-sari
Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 582
Радиотехника ; 10
seeria variantpealkiri
TPI Toimetised ; 582
Труды ТПИ ; 582
märksõna
integraallülitused
kvaliteet
prognostika
klastrid
TTÜ märksõna
Tallinna Tehnikaülikooli toimetised
märkused
Библиогр. : 4 назв
keel
vene
Бударин, В.Н., Рятсеп, Ю.П., Тээвет, Дж.-Т.Э. Прогнозирование качества интегральных микросхем на основе кластеров состояний // Методы и средства цифровой обработки сигналов. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1984. с. 111-115. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 582, Радиотехника ; 10).