Генерирование тестов микропроцессорных систем на модели АГ
autor
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Убар, Р.
allikas
Техническая диагностика : Тезисы докладов III Международного симпозиума ИМЕКО, Москва, окт. 1983
ilmumiskoht
Москва
kirjastus/väljaandja
Ин-т пробл. упр.
ilmumisaasta
1983
leheküljed
с. 100-103
konverentsi nimetus, aeg
III Международный симпозиум ИМЕКО, окт. 1983
konverentsi toimumispaik
Москва
märksõna
mikroprotsessorid
testimine
matemaatilised mudelid
TTÜ struktuuriüksus
elektronarvutite kateeder
keel
vene