Energy minimization for hybrid BIST in a system-on-chip test environment
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Shchenova, Tatjana
Jervan, Gert
Peng, Zebo
vastutusandmed
Raimund Ubar, Tatjana Shchenova, Gert Jervan, Zebo Peng
allikas
European Test Symposium : ETS 2005 : 22-25 May 2005, Tallinn, Estonia : proceedings
ilmumiskoht
Los Alamitos
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2005
leheküljed
p. 2-7 : ill
ISBN
0-7695-2341-2
märkused
Bibliogr.: 30 ref