Macro level defect-oriented diagnosability of digital circuits
autor
Kostin, Sergei
Ubar, Raimund-Johannes
Raik, Jaan
vastutusandmed
Sergei Kostin, Raimund Ubar, Jaan Raik
allikas
BEC 2010 : 2010 12th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 12th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 4-6, 2010, Tallinn, Estonia
ilmumiskoht
[Tallinn]
kirjastus/väljaandja
Tallinn University of Technology
ilmumisaasta
2010
leheküljed
p. 149-152 : ill
konverentsi nimetus, aeg
12th Biennial Baltic Electronics Conference, 2010
konverentsi toimumispaik
Tallinn
märksõna
digitaalintegraallülitused
defektid
rikked
diagnostika (tehnika)
ISSN
1736-3705
ISBN
978-1-4244-7357-1
märkused
Bibliogr.: 18 ref
keel
inglise