MLC: a machine learning based checker for soft error detection in embedded processors
autor
Nosrati, Nooshin
Jenihhin, Maksim
Navabi, Zainalabedin
vastutusandmed
Nosrati, Nooshin; Jenihhin, Maksim; Navabi, Zainalabedin
allikas
Proceedings - 2022 IEEE 28th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, IOLTS 2022
ilmumiskoht
New York
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2022
leheküljed
Code 183305
konverentsi nimetus, aeg
28th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, IOLTS 2022, 2-14 Sept. 2022
konverentsi toimumispaik
Torino, Italy
leitav
https://doi.org/10.1109/IOLTS56730.2022.9897309
märksõna
tehisõpe
protsessorid
veaavastus
kontrollerid
Scopus
Article at Scopus
WOS
Article at WOS
ISBN
978-166547355-2
märkused
Bibliogr.: 25 ref
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus