Bachmann, M., Kalda, J., Lass, J., Tuulik, V., Säkki, M., Hinrikus, H.

prindi

Non-linear analysis of the electro-encephalogram for detecting effects of low-level electromagnetic fields

autor

Bachmann, Maie

Kalda, Jaan

Lass, Jaanus

Tuulik, Viiu

Säkki, Maksim

Hinrikus, Hiie

vastutusandmed

M.Bachmann, J.Kalda, J.Lass, V.Tuulik, M.Säkki, H.Hinrikus

allikas

Medical & biological engineering & computing

ajakirja aastakäik number kuu

Vol. 43

ilmumisaasta

2005

leheküljed

1, p. 142-149 : ill

leitav

https://link.springer.com/article/10.1007/BF02345136

märksõna

skaleerimine

spektraalanalüüs

mikrolained

elektroentsefalogramm

elektromagnetväljad

ISSN

0140-0118

märkused

Bibliogr. p. 148

TTÜ struktuuriüksus

biomeditsiinitehnika keskus

TTÜ Küberneetika Instituut

keel

inglise

Bachmann, M., Kalda, J., Lass, J., Tuulik, V., Säkki, M., Hinrikus, H. Non-linear analysis of the electro-encephalogram for detecting effects of low-level electromagnetic fields // Medical & biological engineering & computing (2005) Vol. 43, 1, p. 142-149 : ill. https://link.springer.com/article/10.1007/BF02345136