Aleksejev, I., Jutman, A., Devadze, S.

täiskirje prindi

Run-time reconfigurable instruments for advanced board-level testing

autor

Aleksejev, Igor

Jutman, Artur

Devadze, Sergei

vastutusandmed

Igor Aleksejev, Artur Jutman, Sergei Devadze

allikas

IEEE instrumentation & measurement magazine

ajakirja aastakäik number kuu

vol. 20, 4

ilmumisaasta

2017

leheküljed

p. 23-30 : ill

leitav

https://doi.org/10.1109/MIM.2017.8006390

ISSN

1094-6969

märkused

Bibliogr.: 14 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

testimine

manussüsteemid

programmeerimine

võtmesõna

field programmable gate arrays

test equipment

TalTechi üksused

TTÜ struktuuriüksus

arvutisüsteemide instituut

Aleksejev, I., Jutman, A., Devadze, S. Run-time reconfigurable instruments for advanced board-level testing // IEEE instrumentation & measurement magazine (2017) vol. 20, 4, p. 23-30 : ill. https://doi.org/10.1109/MIM.2017.8006390