kompaktne vaade prindi

Optical spectroscopy studies of Cu2ZnSnSe4 thin films

autor
Yakushev, M. V.
Forbes, I.
Mudryi, A. V.
Grossberg, Maarja
Krustok, Jüri
Beattie, N. S.
Moynihan, M.
Rockett, A.
Martin, R. W.
vastutusandmed
M.V. Yakushev, I. Forbes, A.V. Mudryi, M. Grossberg, J. Krustok, N.S. Beattie, M. Moynihan, A. Rockett, R.W. Martin
allikas
Thin solid films
kirjastus/väljaandja
Elsevier
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 582
ilmumisaasta
2015
leheküljed
p. 154-157 : ill
leitav
https://doi.org/10.1016/j.tsf.2014.09.010
märksõna
päikeseelemendid
õhukesed kiled
defektid
fotoluminestsents
absorptsioon
võtmesõna
Cu2ZnSnSe4
thin films
defects
photoluminescence
absorption
ISSN
0040-6090
märkused
Bibliogr.: 13 ref
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
1.1
Scopus
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
WOS
Journal metrics at WOS
Article at WOS
kategooria (üld)
Materjaliteadus
Füüsika ja astronoomia
kategooria (alam)
Materjaliteadus. Pinnad, katted ja kiled
Materjaliteadus. Elektroonilised, optilised ja magnetilised materjalid
Materjaliteadus. Materjalide keemia
Füüsika ja astronoomia. Pinnad ja liidesed
kvartiil
Q2
TTÜ struktuuriüksus
materjaliteaduse instituut
füüsikainstituut
keel
inglise
Yakushev, M.V., Forbes, I., Mudryi, A.V., Grossberg, M., Krustok, J., Beattie, N.S., Moynihan, M., Rockett, A., Martin, R.W. Optical spectroscopy studies of Cu2ZnSnSe4 thin films // Thin solid films (2015) Vol. 582, p. 154-157 : ill. https://doi.org/10.1016/j.tsf.2014.09.010