Machine learning to tackle the challenges of transient and soft errors in complex circuits
autor
Lange, Thomas
Balakrishnan, Aneesh
Glorieux, Maximilien
Alexandrescu, Dan
Sterpone, Luca
vastutusandmed
Thomas Lange, Aneesh Balakrishnan, Maximilien Glorieux, Dan Alexandrescu, Luca Sterpone
allikas
2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 1-3 July 2019, Greece
ilmumiskoht
Danvers
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2019
leheküljed
p. 7-14 : ill
konverentsi nimetus, aeg
2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 1-3 July 2019
konverentsi toimumispaik
Rhodes, Greece
leitav
https://doi.org/10.1109/IOLTS.2019.8854423
märksõna
rikked
tehisõpe
vead
innovatsioonid
tõrketaluvus
juhuslikud protsessid
lineaarsed mudelid
võtmesõna
transient faults
single-event effects
fault injection
machine learning
linear least squares
k-NN
CART
ridge regression
support vector regression
ISSN
1942-9401
ISBN
978-1-7281-2490-2
märkused
Bibliogr.: 15 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)